Nikon P-CL koaxialer Beleuchter (65465)

Der Nikon P-CL Koaxialbeleuchter ist ein Zubehör, das für die Bereitstellung von koaxialer episkopischer Beleuchtung für Nikon-Polarisationsmikroskope entwickelt wurde. Diese Art von Beleuchter lenkt das Licht entlang der gleichen optischen Achse wie der Beobachtungspfad, was ihn ideal für die Betrachtung und Abbildung der Oberflächenmerkmale von undurchsichtigen oder reflektierenden Proben macht. Koaxiale Beleuchtung ist besonders nützlich in Anwendungen wie Materialwissenschaft, Metallurgie und Halbleiterinspektion, bei denen eine detaillierte Oberflächenbeobachtung ohne Schatten erforderlich ist.

Bietet koaxiale episkopische Beleuchtung, indem das Licht entlang der optischen Achse gelenkt wird, was die Beobachtung von Oberflächendetails auf undurchsichtigen oder reflektierenden Proben ohne Schatten ermöglicht.

Kompatibilität:
Entwickelt für die Verwendung mit Nikon-Polarisationsmikroskopen, wie der ECLIPSE Ci POL und LV100N POL Serie. Es kann mit anderen Beleuchtungssystemen kombiniert werden, einschließlich diaskopischer (durchlicht) und episkopischer (reflektiertes Licht) Techniken.

Hauptmerkmale:

• Bietet schattenfreie, gleichmäßige Beleuchtung für klare Beobachtung von Oberflächenstrukturen

• Besonders geeignet für dicke, polierte oder metallische Proben, die eine detaillierte Oberflächenabbildung erfordern

• Einfach integrierbar mit Nikon-Mikroskopen, die für Polarisations- und reflektierte Lichtbeobachtung ausgestattet sind

• Kann in Verbindung mit Kompensatoren und Polarisationszubehör für fortgeschrittene Analysen verwendet werden

Anwendungen:
Materialwissenschaft und Metallurgie zur Untersuchung von polierten Schnitten und Metalloberflächen
Halbleiter- und Elektronikinspektion zur Beobachtung von Mikrostrukturen und Defekten
Geologie und Mineralogie zur Analyse von undurchsichtigen Mineralien
Qualitätskontrolle und Fehleranalyse in industriellen Umgebungen

Dieser Beleuchter ist unerlässlich für Benutzer, die hochqualitative, schattenfreie Abbildungen von reflektierenden oder undurchsichtigen Proben benötigen und unterstützt sowohl Routineinspektionen als auch fortgeschrittene Forschungsaufgaben.