니콘 P-CI QL1.5X 람다/4 플레이트 (65467)
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우리 회사는 폴란드 개발 기술부의 공식 허가 준비에 참여하고 있으며, 이를 통해 폴란드 측에서는 VAT 없이/우크라이나 측에서는 VAT 없이 모든 이중 용도 드론, 광학 장치 및 휴대용 무선 전화기를 수출할 수 있습니다.

신규

니콘 P-CI QL1.5X 람다/4 플레이트 (65467)

Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 플레이트는 주로 ECLIPSE Ci POL 및 LV100N POL 시리즈와 같은 Nikon 편광 현미경에서 사용하기 위해 설계된 광학 액세서리입니다. 이 4분의 1파장(λ/4) 플레이트는 복굴절 샘플을 통과하는 보통광과 특별광 사이에 특정한 위상 차이를 도입하는 데 사용됩니다. 이를 통해 간섭색을 관찰할 수 있으며, 지연 및 방향과 같은 광학적 특성의 측정에 도움을 줍니다.

3002.86 ₪
세금 포함

2441.35 ₪ Netto (non-EU countries)

아나톨리 리바셰프스키
제품 관리자
모스크바 / 폴스키
+48721808900
+48721808900
전보 +48721808900
[email protected]

세부내용

Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 플레이트는 편광 현미경, 특히 ECLIPSE Ci POL 및 LV100N POL 시리즈와 같은 Nikon 편광 현미경에서 사용하기 위해 설계된 광학 액세서리입니다. 이 4분의 1파장(λ/4) 플레이트는 이방성 샘플을 통과하는 보통 광선과 특별 광선 사이에 특정 위상 차이를 도입하는 데 사용됩니다. 이를 통해 간섭 색상을 관찰할 수 있으며, 지연 및 방향과 같은 광학적 특성의 측정을 돕습니다. 이 플레이트는 지질학, 광물학 및 재료 과학과 같은 분야에서 고급 편광 연구 및 정량 분석에 특히 유용합니다.

 

편광 현미경에서 빛의 편광 상태를 수정하여 대비를 향상시키고 이방성 재료의 세부 분석을 가능하게 합니다.

 

호환성:
ECLIPSE Ci POL 및 LV100N POL 시리즈를 포함한 Nikon 편광 현미경의 보상기 또는 액세서리 슬롯에 맞습니다.

 

주요 특징:

  • 직교 편광 성분 사이에 4분의 1파장(λ/4) 위상 차이를 도입합니다

  • 간섭 색상 관찰 및 광학 지연 측정을 허용합니다

  • 결정, 광물 및 기타 이방성 재료의 방향 및 광학적 특성을 결정하는 데 유용합니다

  • 틴트 플레이트나 석영 쐐기와 같은 다른 보상기와 결합하여 고급 편광 분석을 수행할 수 있습니다

응용 분야:
광물 식별 및 이중 굴절 측정을 위한 지질학 및 광물학
폴리머, 섬유 및 결정 구조 분석을 위한 재료 과학
광학 광물학 및 재료 특성화에 대한 연구 및 교육

 

이 액세서리는 고급 편광 현미경에 필수적이며, 빛의 편광 상태를 정밀하게 제어하고 다양한 이방성 샘플의 정확한 광학 측정을 가능하게 합니다.

상세정보

IFAXPGA4HV

개발 기술부의 공식 허가

우리 회사는 폴란드 개발 기술부의 공식 허가 준비에 참여하고 있으며 이를 통해 폴란드 측에서는 VAT 없이/우크라이나 측에서는 VAT 없이 모든 이중 용도 드론, 광학 장치 및 휴대용 무선 전화기를 수출할 수 있습니다.