Cabeça de Zoom Estéreo Nikon SMZ-800N, bino, 10-80x, paragem por clique, razão 8:1, 64 mm, 20°, WD 78 mm (65446)

A Cabeça de Zoom Estéreo Nikon SMZ-800N é uma cabeça de zoom binocular projetada para microscopia estéreo avançada em ambientes de laboratório, pesquisa e industriais. Este modelo oferece uma ampla gama de ampliação e alta relação de zoom, tornando-o adequado tanto para uma visão geral quanto para inspeção detalhada de espécimes. Seu sistema óptico fornece imagens brilhantes, nítidas e com cores precisas em toda a faixa de zoom, e o design ergonômico garante uso confortável durante sessões prolongadas. O SMZ-800N pode ser combinado com vários objetivos e acessórios, permitindo configurações flexíveis e personalizadas para atender a diferentes necessidades de aplicação.

Características Principais

• Faixa de ampliação: 10x a 80x, adequada para observação de baixa e alta ampliação

• Relação de zoom: 8:1, proporcionando zoom suave e contínuo de visão geral a detalhes

• Mecanismo de parada por clique para configurações de ampliação precisas e repetíveis

• Distância interpupilar: 64 mm para visualização binocular confortável

• Ângulo de inclinação da ocular: 20° para uso ergonômico

• Distância de trabalho: 78 mm, permitindo fácil manipulação de espécimes e compatibilidade com vários acessórios

• Design de óptica paralela para qualidade de imagem consistente e suporte para tubos ergonômicos e acessórios de observação

• Correção avançada de aberração cromática usando óptica semi-apocromática, garantindo imagens nítidas e brilhantes em todo o campo de visão

• Compatível com uma ampla gama de objetivos, incluindo a série Plan Apo WF de alta NA e campo de visão amplo, bem como opções de baixa ampliação

• Expansível com acessórios ergonômicos, suportes e opções de iluminação para atender a uma variedade de aplicações de pesquisa, inspeção e educação

Esta cabeça de zoom estéreo é ideal para usuários que necessitam de imagens versáteis, de alta qualidade e conforto ergonômico durante trabalhos prolongados de microscopia.