Cabeça de Zoom Estéreo Nikon SMZ745T, trinocular, 6.7-50x, razão 7.5:1, 52-75 mm, 45°, WD 115 mm (65413)

A Cabeça de Zoom Estéreo Nikon SMZ745T é uma cabeça de zoom trinocular projetada para microscopia estéreo avançada em aplicações laboratoriais, de pesquisa, industriais e biológicas. Este modelo é particularmente valorizado por sua alta relação de zoom e longa distância de trabalho, tornando-o ideal tanto para observação detalhada quanto para manipulação prática de amostras. O SMZ745T possui uma construção robusta com propriedades anti-mofo e antiestáticas, garantindo desempenho confiável mesmo em ambientes desafiadores. Sua porta de câmera embutida e adaptador C-mount facilitam a integração de imagem digital para documentação ou análise.

Características Principais

• Faixa de ampliação: 6.7x a 50x, adequada para uma variedade de tarefas de observação

• Relação de zoom: 7.5:1, proporcionando uma ampla e contínua faixa de zoom

• Sistema óptico Greenough para imagens brilhantes e de alto contraste

• Mecanismo de parada por clique para configurações de ampliação precisas e repetíveis

• Ajuste de distância interpupilar: 52–75 mm para visualização binocular confortável

• Ângulo de inclinação da ocular: 45° para uso ergonômico

• Distância de trabalho: 115 mm, oferecendo amplo espaço para manipulação de espécimes e compatibilidade com acessórios

• Cabeça trinocular com adaptador C-mount embutido de 0.55x para conexão direta com Câmeras Digitais da Série Nikon DS

• Design anti-mofo e antiestático para uso em ambientes de alta umidade ou sensíveis

• Construção hermética para prevenir contaminação por poeira, óleo e água (proteção IPX1)

• Compatível com uma gama de oculares Nikon (C-W 10xB, C-W 15x, C-W 20x, C-W 30x) e objetivos auxiliares para opções flexíveis de ampliação e distância de trabalho

• Peso: 1.8 kg

Áreas de Aplicação

• Biologia

• Biologia Marinha

Esta cabeça de zoom estéreo é uma excelente escolha para usuários que precisam de imagens confiáveis e de alta qualidade, conforto ergonômico e fácil integração com sistemas de imagem digital para tarefas de pesquisa, inspeção e microscopia educacional.