A nossa empresa está envolvida na preparação de licenças oficiais do Ministério do Desenvolvimento e Tecnologia polaco, que nos permitem exportar todos os drones, óticos e radiofones portáteis de dupla utilização sem IVA no lado polaco / e sem IVA no lado ucraniano.
Placa Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 (65467)
A placa Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 é um acessório óptico projetado para uso em microscopia de polarização, particularmente com microscópios de polarização Nikon, como as séries ECLIPSE Ci POL e LV100N POL. Esta placa de um quarto de onda (λ/4) é usada para introduzir um deslocamento de fase específico entre os raios ordinário e extraordinário que passam por uma amostra birrefringente. Ao fazer isso, ela permite a observação de cores de interferência e auxilia na medição de propriedades ópticas como retardação e orientação.
927.96 $ Netto (non-EU countries)
Anatolii Livashevskyi
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Descrição
A placa Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 é um acessório óptico projetado para uso em microscopia de polarização, particularmente com microscópios polarizadores Nikon, como as séries ECLIPSE Ci POL e LV100N POL. Esta placa de um quarto de onda (λ/4) é usada para introduzir um deslocamento de fase específico entre os raios ordinário e extraordinário que passam por uma amostra birrefringente. Ao fazer isso, permite a observação de cores de interferência e auxilia na medição de propriedades ópticas como retardação e orientação. A placa é especialmente valiosa para estudos avançados de polarização e análise quantitativa em campos como geologia, mineralogia e ciência dos materiais.
Usada em microscópios polarizadores para modificar o estado de polarização da luz, aumentando o contraste e permitindo uma análise detalhada de materiais birrefringentes.
Compatibilidade:
Encaixa-se no slot de compensador ou acessório de microscópios polarizadores Nikon, incluindo as séries ECLIPSE Ci POL e LV100N POL.
Características Principais:
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Introduz um deslocamento de fase de um quarto de onda (λ/4) entre componentes de polarização ortogonais
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Permite a observação de cores de interferência e medição de retardação óptica
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Útil para determinar a orientação e propriedades ópticas de cristais, minerais e outros materiais anisotrópicos
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Pode ser combinada com outros compensadores, como placas de tonalidade ou cunhas de quartzo, para análise avançada de polarização
Aplicações:
Geologia e mineralogia para identificação de minerais e medição de birrefringência
Ciência dos materiais para análise de polímeros, fibras e estruturas cristalinas
Pesquisa e educação em mineralogia óptica e caracterização de materiais
Este acessório é essencial para microscopia de polarização avançada, proporcionando controle preciso sobre o estado de polarização da luz e permitindo medições ópticas precisas de uma ampla gama de amostras birrefringentes.
Ficha informativa
Licenças oficiais do Ministério do Desenvolvimento e Tecnologia
A nossa empresa está envolvida na preparação de licenças oficiais do Ministério do Desenvolvimento e Tecnologia polaco, que nos permitem exportar todos os drones, óticos e radiofones portáteis de dupla utilização sem IVA no lado polaco / e sem IVA no lado ucraniano.