مرشح Antlia SII 3 نانومتر برو 2 ضيق النطاق

تم تصميم مرشح Antlia SII 3 nm Pro 2 خصيصًا للتصوير الفلكي الاحترافي ، مما يسمح بنقل الضوء بطول موجي يبلغ 671.6 نانومتر تنبعث من ذرات الكبريت المؤينة المزدوجة. يلعب هذا المرشح دورًا مهمًا في التقاط جمال السدم الانبعاثية ، مما يجعله أداة أساسية لمصوري النجوم.

تم تصميم فلتر Antlia SII 3 nm Pro 2 بأقصى درجات الدقة والعناية ، وقد خضع لاختبارات جودة سطح صارمة تتوافق مع المعايير العسكرية الصارمة. يضمن بنائه الاستثنائي الأداء الأمثل والموثوقية. والجدير بالذكر أن المرشح يتميز بعرض نصف نطاق ضيق بشكل مثير للإعجاب يبلغ 3 نانومتر فقط. تتيح هذه الخاصية القضاء شبه الكامل على المكونات غير المرغوب فيها المنبعثة من مصابيح الصوديوم والزئبق مع توفير إمكانات نقل عالية للخط الطيفي SII ، والذي يحمل أهمية كبيرة في مجال التصوير الفوتوغرافي للنجوم.

من المهم ملاحظة أن مرشح SII غير موصى به للمراقبة البصرية ، ولا ينبغي استخدامه كمرشح شمسي تحت أي ظرف من الظروف.

الميزات الرئيسية لمرشح Antlia SII 3 nm Pro 2:

مرشح Bandpass على ركيزة Schott عالية الجودة: تم إنشاء الفلتر بدقة على ركيزة Schott المتميزة ، مما يزيد من نقل الإشعاع بطول موجي يبلغ 671.6 نانومتر.

التوافق مع Astrographs: المرشح متوافق مع النجوم القادرة على التعامل مع الضوء الشديد ، مثل تلك ذات كثافة الضوء f / 3 (على سبيل المثال ، RASA أو Hyperstar) ، مما يضمن الأداء والمرونة الأمثل.

عرض نصف ضيق بشكل استثنائي: مع عرض كامل عند نصف الحد الأقصى (FWHM) يبلغ 3 نانومتر فقط ، يوفر المرشح نطاقًا ضيقًا للغاية من الضوء المرسل ، مما يؤدي إلى أقصى تباين لالتقاط الصور الفلكية التفصيلية.

كثافة بصرية مكافئة OD5: يحقق المرشح كثافة بصرية مكافئة لـ OD5 ، مما يضمن إزالة فعالة للتلوث الضوئي بمستوى رائع يبلغ 99.999٪.

المواصفات الفنية:

• نوع الفلتر: مرشح ممر الموجة
• قطر المرشح: 2 "
• سمك الفلتر: 2 ± 0.05 مم
• شكل الفلتر: دائري
• النطاقات المنقولة: SII (671.6 نانومتر)
• ذروة النفاذية (CWL) الموقع: 671.6 نانومتر
• نصف عرض النطاق الترددي (FWHM): 3 نانومتر
• الحد الأقصى للانتقال:> 88٪
• الحزم المحظورة: مصابيح الزئبق (435.8 نانومتر ، 546.1 نانومتر ، 577 نانومتر ، 578.1 نانومتر) ، مصابيح الصوديوم (598 نانومتر ، 589.6 نانومتر ، 615.4 نانومتر ، 616.1 نانومتر)
• كفاءة منع التلوث الضوئي:> 99.999٪
• الكثافة البصرية المكافئة للخطوط المحظورة: OD5 (300-1000 نانومتر)
• مؤشر جودة السطح (وفقًا لمعيار MIL-O-13830): 60/40
• التوازي: 30 "
• دقة التنفيذ (RMS): λ / 4

المدرجة في المجموعة:

• مرشح Antlia SII 3 nm Pro 2

ضمان:

يأتي مرشح Antlia SII 3 nm Pro 2 مزودًا بضمان لمدة 3 سنوات من الشركة المصنعة يغطي إزالة الترشيح وعيوب الركيزة ، مما يضمن راحة البال والثقة في جودة المنتج.