فلتر أنتيليا SII 3 نانومتر برو 31 مم غير مركب للتصوير الفلكي بحزمة ضيقة

يُعد فلتر أنتيليا SII 3 نانومتر برو 31 مم أداة احترافية متقدمة صُممت خصيصًا للتصوير الفلكي. تم تصميمه بدقة لالتقاط الطول الموجي 671.6 نانومتر المنبعث من ذرات الكبريت المؤينة مرتين، والتي توجد غالبًا في السدم الانبعاثية. يخضع هذا الفلتر لاختبارات جودة سطح دقيقة وفقًا لمعايير عسكرية صارمة، مما يضمن أداءً استثنائيًا لهواة ومحترفي التصوير الفلكي.

الميزات الرئيسية

• عرض نطاق فائق الضيق: يتميز بنطاق نصف عرض صغير للغاية يبلغ 3 نانومتر فقط، ما يجعله متفوقًا في إزالة الضوء غير المرغوب فيه من مصابيح الصوديوم والزئبق، مع تعزيز نقل خط الطيف SII الضروري للتصوير الفلكي.
• بناء عالي الجودة: مصنوع على ركيزة شوت عالية الجودة، ما يضمن نقلًا مثاليًا للإشعاع عند الطول الموجي 671.6 نانومتر.
• متوافق مع التلسكوبات السريعة: مثالي للاستخدام مع التلسكوبات الفلكية عالية الشدة مثل RASA أو Hyperstar، مع شدة ضوء تصل إلى f/3.
• تقليل تلوث الضوء: مزود بكثافة بصرية مكافئة (OD5)، يحقق الفلتر فعالية مذهلة بنسبة 99.999% في حجب تلوث الضوء.

ملاحظات هامة للاستخدام

يرجى ملاحظة أن فلتر SII غير مصمم للرصد البصري ولا يجب استخدامه أبدًا لمشاهدة الشمس.

المواصفات التقنية

• نوع الفلتر: فلتر تمرير نطاقي
• قطر الفلتر: 31 مم
• سمك الفلتر: 2 ± 0.05 مم
• شكل الفلتر: دائري
• النطاقات المنقولة: SII (671.6 نانومتر)
• النقل الأقصى (CWL): 671.6 نانومتر
• نصف عرض النطاق (FWHM): 3 نانومتر
• أقصى معدل نقل: >88%
• النطاقات المحجوبة: مصابيح الزئبق (435.8 نانومتر، 546.1 نانومتر، 577 نانومتر، 578.1 نانومتر)، مصابيح الصوديوم (598 نانومتر، 589.6 نانومتر، 615.4 نانومتر، 616.1 نانومتر)
• فعالية حجب تلوث الضوء: >99.999%
• الكثافة البصرية المكافئة للخطوط المحجوبة: OD5 (300 - 1000 نانومتر)
• مؤشر جودة السطح (وفقًا لمعيار MIL-O-13830): 60/40
• التوازي: 30"
• دقة التنفيذ (RMS): λ/4

محتويات المجموعة

• فلتر أنتيليا SII 3 نانومتر برو 31 مم

الضمان

يأتي فلتر أنتيليا SII 3 نانومتر برو 31 مم مع ضمان الشركة المصنعة لمدة ثلاث سنوات، ويشمل أي مشاكل تتعلق بانفصال الطبقات بين الفلتر والركيزة.