أنتليا إس-2 50 مم 4.5 نانومتر إيدج

فلتر أنتيليا S-II بقطر 50 مم ونطاق 4.5 نانومتر EDGE للتصوير الفلكي

يُعد أنتيليا S-II 50 مم 4.5 نانومتر EDGE فلتر تصوير فلكي متطور تم تصنيعه بعناية فائقة للمصورين المحترفين الذين يطالبون بأعلى جودة للصور. بفضل نافذة نقل الضوء الدقيقة بعرض نصف أقصى (FWHM) يبلغ 4.5 نانومتر، تم تصميم هذا الفلتر لنقل الضوء عند الطول الموجي الحرج 671.6 نانومتر المنبعث من ذرات الكبريت المؤينة مرتين. هذا النطاق المحدد ضروري لالتقاط صور مذهلة للسدم الانبعاثية.

واحدة من الميزات البارزة لهذا الفلتر هي قدرته الاستثنائية على حجب الضوء غير المرغوب فيه من مصابيح الصوديوم والزئبق مع الحفاظ على نقل ممتاز لخط الطيف S-II. هذه القدرة مهمة للغاية في التصوير الفلكي، حيث أن التقاط التفاصيل الدقيقة أمر بالغ الأهمية. تم تصنيع الفلتر من ركيزة زجاجية عالية الجودة لتقليل الانعكاسات الداخلية للضوء، مما يضمن أن تكون صورك واضحة وحادة.

ما يميز فلتر أنتيليا S-II 50 مم 4.5 نانومتر EDGE عن الفلاتر التقليدية ذات النطاق العريض هو الانحدار الحاد لنافذة نفاذيته. على عكس الفلاتر العادية، يحافظ فلتر أنتيليا على معدل نقل مرتفع دون انخفاضات كبيرة نتيجة لتغيرات في الطول الموجي المركزي (CWL). هذه الميزة الفريدة تجعل فلاتر أنتيليا 4.5 نانومتر EDGE قابلة للتكيف مع التلسكوبات التي تختلف في شدة الضوء، وقد تم اختبارها بدقة لتعمل بشكل مثالي مع الأنظمة البصرية ذات قدرة إضاءة قصوى تصل إلى f/3.

يرجى الملاحظة، هذا الفلتر S-II مصمم خصيصاً للتصوير الفلكي ولا يُوصى به للرصد البصري أو الشمسي.

أبرز ميزات فلتر أنتيليا S-II 50 مم 4.5 نانومتر EDGE:

• مصنوع من ركيزة بصرية عالية الجودة لضمان نقل أقصى عند الطول الموجي 671.6 نانومتر.
• متوافق مع التلسكوبات ذات شدة إضاءة تصل حتى f/3، مما يضمن فقداناً ضئيلاً للإشارة.
• يتميز بنطاق نصف أقصى (FWHM) يبلغ 4.5 نانومتر لعزل دقيق للأطوال الموجية.
• كثافة بصرية مصنفة عند OD5، لإزالة فعالة لتلوث الضوء.

المعلمات التقنية:

• نوع الفلتر: فلتر نطاق تمرير
• قطر الفلتر: 50 مم
• سُمك الفلتر: 3 ± 0.05 مم
• شكل الفلتر: دائري
• نطاقات التمرير: S-II (671.6 نانومتر)
• أقصى نفاذية (CWL): 671.6 نانومتر
• نطاق نصف أقصى (FWHM): 4.5 نانومتر
• النفاذية القصوى: >90% ± 1 نانومتر من ذروة النفاذية القصوى
• نطاقات حجب تلوث الضوء: مصابيح الزئبق (435.8 نانومتر، 546.1 نانومتر، 577 نانومتر، 578.1 نانومتر)، مصابيح الصوديوم (598 نانومتر، 589.6 نانومتر، 615.4 نانومتر، 616.1 نانومتر)
• الكثافة البصرية المكافئة للخطوط المحجوبة: OD5 (300 - 1000 نانومتر)
• مؤشر جودة السطح: 60/40 (وفقاً لمعيار MIL-O-13830)
• التوازي: 30"
• دقة التصنيع (RMS): λ/4

محتويات المجموعة:

• فلتر أنتيليا S-II 50 مم 4.5 نانومتر EDGE

الضمان:

يأتي فلتر أنتيليا S-II 50 مم 4.5 نانومتر EDGE مع ضمان مصنعي لمدة 3 سنوات، يوفر الحماية ضد انفصال طبقات الفلتر وركيزته الزجاجية.