فلتر أنتليا O-III 50 مم 4.5 نانومتر EDGE للتصوير الفلكي

يُعد أنتليا O-III 50 مم 4.5 نانومتر EDGE فلتر تصوير فلكي عالي الجودة، تم تصميمه خصيصًا لالتقاط أدق تفاصيل السدم الانبعاثية. وبفضل تصميمه للنطاق الضيق، يقوم هذا الفلتر بالتقاط الضوء عند طول موجي 500.7 نانومتر، المنبعث من ذرات الأكسجين المؤينة، مما يجعله أداة أساسية للمصورين الفلكيين المحترفين الذين يسعون للحصول على صور سماوية مذهلة.

الميزات الرئيسية

• فلتر تمرير نطاق دقيق: مصنوع على ركيزة بصرية عالية الجودة لتعظيم انتقال الضوء عند 500.7 نانومتر.
• التوافق: مناسب للمناظير الفلكية ذات شدة الإضاءة حتى f/3، مما يضمن فقداناً ضئيلاً للإشارة.
• عرض نطاق ضيق: يتميز بعرض نطاق نصف أقصى (FWHM) يبلغ 4.5 نانومتر لترشيح دقيق.
• تقليل التلوث الضوئي: كثافة بصرية مكافئة OD5 للقضاء الفعال على التلوث الضوئي من مصابيح الصوديوم والزئبق.
• جودة الصورة: مصمم لتقليل الانعكاسات الداخلية، مما يوفر صوراً أوضح وأكثر جودة.

المواصفات التقنية

• نوع الفلتر: فلتر تمرير نطاق
• قطر الفلتر: 50 مم
• سماكة الفلتر: 3 ± 0.05 مم
• شكل الفلتر: دائري
• نطاقات التمرير: O-III (500.7 نانومتر)
• ذروة الانتقال العظمى (CWL): 500.7 نانومتر
• أقصى انتقال: >85% ± 1 نانومتر من ذروة الانتقال القصوى
• نطاقات حجب التلوث الضوئي: مصابيح الزئبق (435.8 نانومتر، 546.1 نانومتر، 577 نانومتر، 578.1 نانومتر)، مصابيح الصوديوم (598 نانومتر، 589.6 نانومتر، 615.4 نانومتر، 616.1 نانومتر)
• الكثافة البصرية المكافئة للخطوط المحجوبة: OD5 (300 - 1000 نانومتر)
• مؤشر جودة السطح: 60/40 (وفقًا لمعيار MIL-O-13830)
• التوازي: 30"
• دقة التصنيع (RMS): λ/4

عناصر المجموعة

• فلتر أنتليا O-III 50 مم 4.5 نانومتر EDGE

الضمان

فلتر أنتليا O-III 50 مم 4.5 نانومتر EDGE مدعوم بضمان المصنع لمدة 3 سنوات، ويغطي انفصال طبقات الفلتر والركيزة.

ملاحظة: لا يُنصح باستخدام هذا الفلتر للرصد البصري أو الرصد الشمسي.