Microscope trinoculaire Motic BA310 MET-H (45008)

La série BA310MET est une gamme robuste et abordable de microscopes métallurgiques conçus pour les applications en lumière incidente. Ces microscopes sont idéaux pour le contrôle de qualité industriel des matériaux opaques tels que les métaux et les minéraux, offrant à la fois facilité d'utilisation et performance fiable. Le BA310MET excelle également dans les environnements éducatifs pour l'ingénierie et la science des matériaux, où le rapport coût-efficacité et la convivialité sont essentiels.

Pour répondre aux besoins du travail industriel quotidien, le BA310MET est équipé d'un Epi-Illuminator avec une source lumineuse halogène puissante de 12V/50W, qui peut être facilement remplacée par un module LED avec différentes températures de couleur (4500K ou 6000K). Un diaphragme de champ intégré et un diaphragme d'ouverture aident à réduire la lumière parasite et à augmenter le contraste pour une qualité d'image optimale. Les objectifs LM Plan à longue distance de travail de Motic, avec des revêtements multicouches, offrent un excellent contraste et une clarté exceptionnelle. La lentille de tube entièrement corrigée garantit que les images intermédiaires sont exemptes de franges de couleur, et le port trinoculaire permet une imagerie numérique de haute qualité. Le design inclut également une sortie photo normalisée ISO. Selon le modèle, des platines de différentes tailles et plages de déplacement sont disponibles, y compris des options pour la lumière transmise et la manipulation de plus grands échantillons. Pour les plus grands spécimens, le modèle BA310MET-H est recommandé.

Objectifs
La série BA310MET utilise une nouvelle génération d'objectifs achromatiques LM Plan fabriqués à partir de verre de haute qualité, suivant le concept optique CCIS®. Les revêtements multicouches améliorent le contraste et la qualité de l'image. Le revolver inversé à 5 positions sur roulement à billes assure un alignement précis et une répétabilité. Pour une résolution avancée, des objectifs EC-M Plan sont également disponibles.

Éclairage
L'Epi-Illuminator est basé sur une lampe halogène de 12V/50W avec une alimentation externe, minimisant la chaleur près du microscope. L'ampoule halogène peut être remplacée par un module LED de 3W (4500K ou 6000K) pour une durée de vie prolongée et différentes options d'éclairage.

Spécifications standard du BA310MET-H
Système optique : Système optique à l'infini corrigé en couleur (CCIS®)
Oculaires : N-WF 10X/20 mm, avec réglage dioptrique
Tubes d'observation : Binoculaire grand champ 30° (F.N. 20) ou trinoculaire grand champ 30° (F.N. 20), distribution de la lumière 50:50 fixe, image droite
Revolver : Quintuple inversé
Objectifs : CCIS® LM Plan 5X, 10X, 20X, 50X ; 100X (optionnel)
Objectifs à haute NA : CCIS® EC-M Plan 20X et 50X (optionnel)
Platine : Surface de 180 x 140 mm, mouvement de 100 x 80 mm, commandes coaxiales
Mise au point : Engrenages en laiton, mouvement de l'axe Z de 30 mm, mise au point fine avec incrément minimum de 2 μm
Lumière incidente : Éclairage halogène 12V/50W avec alimentation externe, échangeable avec LED 3W (4500K, 6000K)
Épaisseur maximale de l'échantillon : 120 mm

Spécifications
Grossissement : 500x
Oculaire : 10x
Type de lentille : Plan, achromatique (Corrigé à l'infini, CCIS LM plan achromatique, DIN 45 mm ; 5X/0.13 (WD 20.3 mm), 10X/0.25 (WD 17.5 mm), 20X/0.4 (WD 8.1 mm), 50X/0.55 (WD 8.4 mm))
Condenseur : Condenseur Abbe (N.A. 1.25), avec fente pour glissière, centrage et iris
Éclairage : Lumière incidente
Type de lampe : Halogène et LED interchangeables
Système optique : Infini
Champ clair : Oui

Mécanique
Type de construction : Trinoculaire
Mise au point : Mouvement grossier et fin
Posture de vision : Vision oblique à 30°, tête rotative à 360°
Platine pour échantillons : Table croisée
Oculaire grand angle : Oui

Informations générales
Couleur : Gris/noir
Poids : 15 700 g
Longueur : 508 mm
Largeur : 200 mm
Hauteur : 450 mm
Série : BA-310 MET

Champ d'application
Industrie : Oui
Métallurgie : Oui
Minéralogie : Oui
Technologie des semi-conducteurs : Oui
Technologie des matériaux : Oui