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Plaque Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 (65467)
La plaque Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 est un accessoire optique conçu pour être utilisé en microscopie polarisante, en particulier avec les microscopes polarisants Nikon tels que les séries ECLIPSE Ci POL et LV100N POL. Cette plaque quart d'onde (λ/4) est utilisée pour introduire un déphasage spécifique entre les rayons ordinaires et extraordinaires traversant un échantillon biréfringent. Ce faisant, elle permet l'observation des couleurs d'interférence et aide à la mesure des propriétés optiques telles que le retard et l'orientation.
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Anatoli Livashevskyi
Chef de produit
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Description
La plaque Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 est un accessoire optique conçu pour être utilisé en microscopie polarisante, en particulier avec les microscopes polarisants Nikon tels que les séries ECLIPSE Ci POL et LV100N POL. Cette plaque quart d'onde (λ/4) est utilisée pour introduire un déphasage spécifique entre les rayons ordinaires et extraordinaires traversant un échantillon biréfringent. Ce faisant, elle permet l'observation des couleurs d'interférence et aide à la mesure des propriétés optiques telles que le retard et l'orientation. La plaque est particulièrement précieuse pour les études avancées de polarisation et l'analyse quantitative dans des domaines tels que la géologie, la minéralogie et la science des matériaux.
Utilisée dans les microscopes polarisants pour modifier l'état de polarisation de la lumière, améliorant le contraste et permettant une analyse détaillée des matériaux biréfringents.
Compatibilité :
S'insère dans la fente du compensateur ou de l'accessoire des microscopes polarisants Nikon, y compris les séries ECLIPSE Ci POL et LV100N POL.
Caractéristiques principales :
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Introduit un déphasage quart d'onde (λ/4) entre les composants de polarisation orthogonaux
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Permet l'observation des couleurs d'interférence et la mesure du retard optique
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Utile pour déterminer l'orientation et les propriétés optiques des cristaux, minéraux et autres matériaux anisotropes
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Peut être combinée avec d'autres compensateurs, tels que des plaques de teinte ou des coins de quartz, pour une analyse de polarisation avancée
Applications :
Géologie et minéralogie pour l'identification des minéraux et la mesure de la biréfringence
Science des matériaux pour l'analyse des polymères, fibres et structures cristallines
Recherche et éducation en minéralogie optique et caractérisation des matériaux
Cet accessoire est essentiel pour la microscopie de polarisation avancée, fournissant un contrôle précis de l'état de polarisation de la lumière et permettant des mesures optiques précises d'une large gamme d'échantillons biréfringents.
Fiche technique
Autorisations officielles du ministère du développement et de la technologie
Notre société participe à la préparation des permis officiels du ministère polonais du Développement et de la Technologie, qui nous permettent d'exporter tous les drones, optiques et radiotéléphones portables à double usage sans TVA du côté polonais / et sans TVA du côté ukrainien.