Illuminateur coaxial Nikon P-CL (65465)

L'illuminateur coaxial Nikon P-CL est un accessoire conçu pour fournir un éclairage épiscopique coaxial pour les microscopes polarisants Nikon. Ce type d'illuminateur dirige la lumière le long du même axe optique que le chemin d'observation, ce qui le rend idéal pour l'observation et l'imagerie des caractéristiques de surface des échantillons opaques ou réfléchissants. L'éclairage coaxial est particulièrement utile dans des applications telles que la science des matériaux, la métallurgie et l'inspection des semi-conducteurs, où une observation détaillée de la surface sans ombres est requise.

Fournit un éclairage épiscopique coaxial en dirigeant la lumière le long de l'axe optique, permettant l'observation des détails de surface sur des spécimens opaques ou réfléchissants sans introduire d'ombres.

Compatibilité :
Conçu pour être utilisé avec les microscopes polarisants Nikon, tels que les séries ECLIPSE Ci POL et LV100N POL. Il peut être combiné avec d'autres systèmes d'éclairage, y compris les techniques diascopiques (lumière transmise) et épiscopiques (lumière réfléchie).

Caractéristiques principales :

• Fournit un éclairage uniforme sans ombre pour une observation claire des structures de surface

• Particulièrement adapté aux échantillons épais, polis ou métalliques nécessitant une imagerie de surface détaillée

• Facilement intégré aux microscopes Nikon équipés pour l'observation en lumière polarisée et réfléchie

• Peut être utilisé en conjonction avec des compensateurs et des accessoires de polarisation pour une analyse avancée

Applications :
Science des matériaux et métallurgie pour examiner les sections polies et les surfaces métalliques
Inspection des semi-conducteurs et de l'électronique pour observer les microstructures et les défauts
Géologie et minéralogie pour analyser les minéraux opaques
Contrôle de qualité et analyse de défaillance dans les environnements industriels

Cet illuminateur est essentiel pour les utilisateurs qui ont besoin d'une imagerie de haute qualité sans ombre d'échantillons réfléchissants ou opaques, soutenant à la fois les inspections de routine et les tâches de recherche avancées.