Nikon SMZ745T stereo priartinimo galvutė, trinokuliarinė, 6.7-50x, santykis 7.5:1, 52-75 mm, 45°, darbinis atstumas 115 mm (6541

Nikon SMZ745T stereo priartinimo galvutė yra trinokulinė priartinimo galvutė, skirta pažangiai stereo mikroskopijai laboratorijose, tyrimuose, pramonėje ir biologinėse taikymuose. Šis modelis ypač vertinamas dėl didelio priartinimo santykio ir ilgo darbinio atstumo, todėl jis idealiai tinka tiek detaliam stebėjimui, tiek praktiniam mėginių manipuliavimui. SMZ745T pasižymi tvirta konstrukcija su apsauga nuo pelėsio ir antistatinių savybių, užtikrinančia patikimą veikimą net ir sudėtingose aplinkose. Integruotas kameros prievadas ir C-mount adapteris leidžia lengvai integruoti skaitmeninį vaizdavimą dokumentavimui ar analizei.

Pagrindinės savybės

• Didinimo diapazonas: 6,7x iki 50x, tinkamas įvairioms stebėjimo užduotims

• Priartinimo santykis: 7,5:1, suteikiantis platų ir sklandų priartinimo diapazoną

• Greenough optinė sistema ryškiems, aukšto kontrasto vaizdams

• Paspaudimo sustabdymo mechanizmas tiksliems ir pakartotiniams didinimo nustatymams

• Interpupiliarinio atstumo reguliavimas: 52–75 mm patogiam binokuliniam stebėjimui

• Okuliaro pasvirimo kampas: 45° ergonomiškam naudojimui

• Darbinis atstumas: 115 mm, suteikiantis pakankamai vietos mėginių manipuliavimui ir suderinamumą su priedais

• Trinokulinė galvutė su integruotu 0,55x C-mount adapteriu tiesioginiam prijungimui prie Nikon DS serijos skaitmeninių kamerų

• Apsauga nuo pelėsio ir antistatinių savybių naudojimui didelės drėgmės ar jautriose aplinkose

• Sandari konstrukcija, apsauganti nuo dulkių, aliejaus ir vandens užteršimo (IPX1 apsauga)

• Suderinama su įvairiais Nikon okuliarais (C-W 10xB, C-W 15x, C-W 20x, C-W 30x) ir papildomais objektyvais, suteikiančiais lanksčias didinimo ir darbinio atstumo galimybes

• Svoris: 1,8 kg

Taikymo sritys

• Biologija

• Jūrų biologija

Ši stereo priartinimo galvutė yra puikus pasirinkimas vartotojams, kuriems reikia patikimo, aukštos kokybės vaizdavimo, ergonominio komforto ir lengvos integracijos su skaitmeninio vaizdavimo sistemomis tyrimų, inspekcijos ir edukacinės mikroskopijos užduotims.