Nasza firma zajmuje się przygotowaniem oficjalnych zezwoleń Ministerstwa Rozwoju i Technologii, które pozwalają nam na eksport wszystkich dronów, optyki i radiotelefonów przenośnych podwójnego zastosowania bez podatku VAT po stronie polskiej / bez podatku VAT po stronie ukraińskiej.
Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 płytka (65467)
Płyta Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 to akcesorium optyczne zaprojektowane do użycia w mikroskopii polaryzacyjnej, szczególnie z mikroskopami polaryzacyjnymi Nikon, takimi jak serie ECLIPSE Ci POL i LV100N POL. Ta ćwierćfalowa (λ/4) płyta jest używana do wprowadzenia specyficznego przesunięcia fazowego między promieniami zwykłymi i nadzwyczajnymi przechodzącymi przez próbkę dwójłomną. Dzięki temu umożliwia obserwację kolorów interferencyjnych i wspomaga pomiar właściwości optycznych, takich jak opóźnienie i orientacja.
2456.46 AED cena netto (non-EU countries)
Anatolij Liwaszewski
Menedżer produktu /
+48721808900 +48721808900
+48721808900
[email protected]
Opis
Płyta Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 to akcesorium optyczne zaprojektowane do użycia w mikroskopii polaryzacyjnej, szczególnie z mikroskopami polaryzacyjnymi Nikon, takimi jak serie ECLIPSE Ci POL i LV100N POL. Ta płyta ćwierćfalowa (λ/4) jest używana do wprowadzenia określonego przesunięcia fazowego między promieniami zwykłymi i nadzwyczajnymi przechodzącymi przez próbkę dwójłomną. Dzięki temu umożliwia obserwację kolorów interferencyjnych i pomaga w pomiarze właściwości optycznych, takich jak opóźnienie i orientacja. Płyta jest szczególnie cenna w zaawansowanych badaniach polaryzacyjnych i analizach ilościowych w dziedzinach takich jak geologia, mineralogia i nauka o materiałach.
Używana w mikroskopach polaryzacyjnych do modyfikacji stanu polaryzacji światła, zwiększając kontrast i umożliwiając szczegółową analizę materiałów dwójłomnych.
Kompatybilność:
Pasuje do slotu kompensatora lub akcesoriów mikroskopów polaryzacyjnych Nikon, w tym serii ECLIPSE Ci POL i LV100N POL.
Kluczowe cechy:
-
Wprowadza przesunięcie fazowe ćwierć fali (λ/4) między ortogonalnymi składnikami polaryzacji
-
Umożliwia obserwację kolorów interferencyjnych i pomiar opóźnienia optycznego
-
Przydatna do określania orientacji i właściwości optycznych kryształów, minerałów i innych materiałów anizotropowych
-
Może być łączona z innymi kompensatorami, takimi jak płytki barwne czy kliny kwarcowe, do zaawansowanej analizy polaryzacyjnej
Zastosowania:
Geologia i mineralogia do identyfikacji minerałów i pomiaru dwójłomności
Nauka o materiałach do analizy polimerów, włókien i struktur krystalicznych
Badania i edukacja w zakresie optycznej mineralogii i charakterystyki materiałów
To akcesorium jest niezbędne do zaawansowanej mikroskopii polaryzacyjnej, zapewniając precyzyjną kontrolę nad stanem polaryzacji światła i umożliwiając dokładne pomiary optyczne szerokiej gamy próbek dwójłomnych.
Opis
Oficjalne zezwolenia Ministerstwa Rozwoju i Technologii
Nasza firma zajmuje się przygotowaniem oficjalnych zezwoleń Ministerstwa Rozwoju i Technologii, które pozwalają nam na eksport wszystkich dronów, optyki i radiotelefonów przenośnych podwójnego zastosowania bez podatku VAT po stronie polskiej / bez podatku VAT po stronie ukraińskiej.