Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 płytka (65467)
zoom_out_map
chevron_left chevron_right

Nasza firma zajmuje się przygotowaniem oficjalnych zezwoleń Ministerstwa Rozwoju i Technologii, które pozwalają nam na eksport wszystkich dronów, optyki i radiotelefonów przenośnych podwójnego zastosowania bez podatku VAT po stronie polskiej / bez podatku VAT po stronie ukraińskiej.

Nowy

Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 płytka (65467)

Płyta Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 to akcesorium optyczne zaprojektowane do użycia w mikroskopii polaryzacyjnej, szczególnie z mikroskopami polaryzacyjnymi Nikon, takimi jak serie ECLIPSE Ci POL i LV100N POL. Ta ćwierćfalowa (λ/4) płyta jest używana do wprowadzenia specyficznego przesunięcia fazowego między promieniami zwykłymi i nadzwyczajnymi przechodzącymi przez próbkę dwójłomną. Dzięki temu umożliwia obserwację kolorów interferencyjnych i wspomaga pomiar właściwości optycznych, takich jak opóźnienie i orientacja.

8532.08 kr
Z podatkiem VAT

6936.65 kr cena netto (non-EU countries)

Anatolij Liwaszewski
Menedżer produktu
Українська / Polski
+48721808900
+48721808900
Telegram +48721808900
[email protected]

Opis

Płyta Nikon P-CI QL1.5X Lambda/4 to akcesorium optyczne zaprojektowane do użycia w mikroskopii polaryzacyjnej, szczególnie z mikroskopami polaryzacyjnymi Nikon, takimi jak serie ECLIPSE Ci POL i LV100N POL. Ta płyta ćwierćfalowa (λ/4) jest używana do wprowadzenia określonego przesunięcia fazowego między promieniami zwykłymi i nadzwyczajnymi przechodzącymi przez próbkę dwójłomną. Dzięki temu umożliwia obserwację kolorów interferencyjnych i pomaga w pomiarze właściwości optycznych, takich jak opóźnienie i orientacja. Płyta jest szczególnie cenna w zaawansowanych badaniach polaryzacyjnych i analizach ilościowych w dziedzinach takich jak geologia, mineralogia i nauka o materiałach.

 

Używana w mikroskopach polaryzacyjnych do modyfikacji stanu polaryzacji światła, zwiększając kontrast i umożliwiając szczegółową analizę materiałów dwójłomnych.

 

Kompatybilność:
Pasuje do slotu kompensatora lub akcesoriów mikroskopów polaryzacyjnych Nikon, w tym serii ECLIPSE Ci POL i LV100N POL.

 

Kluczowe cechy:

  • Wprowadza przesunięcie fazowe ćwierć fali (λ/4) między ortogonalnymi składnikami polaryzacji

  • Umożliwia obserwację kolorów interferencyjnych i pomiar opóźnienia optycznego

  • Przydatna do określania orientacji i właściwości optycznych kryształów, minerałów i innych materiałów anizotropowych

  • Może być łączona z innymi kompensatorami, takimi jak płytki barwne czy kliny kwarcowe, do zaawansowanej analizy polaryzacyjnej

Zastosowania:
Geologia i mineralogia do identyfikacji minerałów i pomiaru dwójłomności
Nauka o materiałach do analizy polimerów, włókien i struktur krystalicznych
Badania i edukacja w zakresie optycznej mineralogii i charakterystyki materiałów

 

To akcesorium jest niezbędne do zaawansowanej mikroskopii polaryzacyjnej, zapewniając precyzyjną kontrolę nad stanem polaryzacji światła i umożliwiając dokładne pomiary optyczne szerokiej gamy próbek dwójłomnych.

Opis

IFAXPGA4HV

Oficjalne zezwolenia Ministerstwa Rozwoju i Technologii

Nasza firma zajmuje się przygotowaniem oficjalnych zezwoleń Ministerstwa Rozwoju i Technologii, które pozwalają nam na eksport wszystkich dronów, optyki i radiotelefonów przenośnych podwójnego zastosowania bez podatku VAT po stronie polskiej / bez podatku VAT po stronie ukraińskiej.