Antlia S-II 2" 4,5 нм EDGE

Антлия S-II 2" 4.5 нм EDGE астрофотографический фильтр

Поднимите свою астрофотографию на новый уровень с Antlia S-II 2" 4.5 нм EDGE астрофотографическим фильтром — профессиональным фильтром, специально разработанным для получения впечатляющих изображений эмиссионных туманностей.

Основные преимущества:

• Исключительные характеристики узкополосного фильтра: Имеет полную ширину на полувысоте (FWHM) 4,5 нм, точно настроен на пропускание света на длине волны 671,6 нм, излучаемой дважды ионизированными атомами серы.
• Отличное подавление светового загрязнения: Эффективно блокирует нежелательный свет от натриевых и ртутных ламп, обеспечивая высокую пропускную способность для линии S-II, что важно для астрофотографии.
• Высококачественная конструкция: Изготовлен из высококлассного оптического стекла, которое минимизирует внутренние отражения, сохраняя чёткость и качество изображения.
• Широкая совместимость: Предназначен для использования с телескопами различной светосилы, поддерживает максимальную производительность даже при светосиле f/3.

Хотя этот фильтр отлично подходит для астрофотографии, он не рекомендуется для визуальных или солнечных наблюдений.

Ключевые особенности:

• Оптимальный полосовой фильтр на высококлассном оптическом стекле.
• Совместим с астрографами со светосилой до f/3, обеспечивая минимальные потери сигнала.
• Точно фильтрует нужные длины волн с шириной полосы пропускания 4,5 нм.
• Оптическая плотность, эквивалентная OD5, для эффективного подавления светового загрязнения.

Технические характеристики:

• Тип фильтра: полосовой фильтр.
• Диаметр фильтра: 2".
• Толщина фильтра: 2 ± 0,05 мм.
• Форма фильтра: круглая.
• Полоса пропускания: S-II (671,6 нм).
• Положение максимума пропускания (CWL): 671,6 нм.
• Полная ширина на полувысоте (FWHM): 4,5 нм.
• Максимальная пропускная способность: >90% ± 1 нм от максимума пропускания.
• Блокируемые полосы светового загрязнения: ртутные лампы (435,8 нм, 546,1 нм, 577 нм, 578,1 нм), натриевые лампы (598 нм, 589,6 нм, 615,4 нм, 616,1 нм).
• Эквивалентная оптическая плотность для блокируемых линий: OD5 (300 - 1000 нм).
• Показатель качества поверхности (по MIL-O-13830): 60/40.
• Параллельность: 30".
• Точность изготовления (RMS): λ/4.
• Резьба держателя: M48x0,75.

Комплектация:

• Фильтр Antlia S-II 2" 4.5 нм EDGE

Гарантия:

На фильтр Antlia S-II 2" 4.5 нм EDGE предоставляется 3-летняя гарантия производителя от расслаивания фильтра и подложки. Эта гарантия обеспечивает ваше спокойствие и защищает вашу инвестицию в качественное астрономическое оборудование.