Antlia S-II 2" 4,5 нм EDGE

Антлія S-II 2" 4.5 нм EDGE астрофотографічний фільтр

Підвищіть якість вашої астрофотографії з Antlia S-II 2" 4.5 нм EDGE астрофотографічним фільтром — професійним фільтром, ретельно розробленим для отримання вражаючих знімків емісійних туманностей.

Основні переваги продукту:

• Виняткові вузькосмугові характеристики: Повна ширина на півмаксимумі (FWHM) складає 4,5 нм, точно налаштована для пропускання світла на довжині хвилі 671,6 нм, що випромінюється двічі іонізованими атомами сірки.
• Відмінне блокування світлового забруднення: Ефективно блокує небажане світло від натрієвих і ртутних ламп, забезпечуючи високу пропускну здатність для лінії S-II, що є вирішальним для астрофотографії.
• Високоякісна конструкція: Виготовлений із преміального оптичного скла, яке мінімізує внутрішні відбиття, зберігаючи чіткість і якість зображення.
• Широка сумісність: Призначений для використання з телескопами різної світлосили, зберігаючи максимальну продуктивність навіть при f/3.

Хоча цей фільтр ідеально підходить для астрофотографії, його не рекомендується використовувати для візуальних або сонячних спостережень.

Ключові характеристики:

• Оптимальний смуговий фільтр на високоякісному оптичному субстраті.
• Сумісний з астрографами зі світлосилою до f/3, забезпечуючи мінімальні втрати сигналу.
• Точно фільтрує потрібні довжини хвиль із напівшириною пропускання 4,5 нм.
• Оптична густина, еквівалентна OD5, для надзвичайно ефективного зниження світлового забруднення.

Технічні характеристики:

• Тип фільтра: смуговий фільтр.
• Діаметр фільтра: 2".
• Товщина фільтра: 2 ± 0,05 мм.
• Форма фільтра: круглий.
• Смуги пропускання: S-II (671,6 нм).
• Положення піку пропускання (CWL): 671,6 нм.
• Напівширина (FWHM): 4,5 нм.
• Максимальна пропускна здатність: >90% ± 1 нм від максимуму пропускання.
• Заблоковані смуги світлового забруднення: ртутні лампи (435,8 нм, 546,1 нм, 577 нм, 578,1 нм), натрієві лампи (598 нм, 589,6 нм, 615,4 нм, 616,1 нм).
• Оптична густина для заблокованих ліній: OD5 (300 - 1000 нм).
• Індекс якості поверхні (відповідно до MIL-O-13830): 60/40.
• Паралельність: 30".
• Точність виготовлення (RMS): λ/4.
• Різьба оправи: M48x0.75.

Комплектація:

• Фільтр Antlia S-II 2" 4.5 нм EDGE

Гарантія:

Фільтр Antlia S-II 2" 4.5 нм EDGE має 3-річну гарантію виробника на відшарування фільтра та субстрату. Ця гарантія забезпечує ваш спокій та захищає вашу інвестицію в якісне обладнання для астрофотографії.