Antlia H-Alpha 2 "4،5 نانومتر EDGE

يعتبر Antlia H-Alpha 2 "4.5 nm EDGE مرشحًا احترافيًا للتصوير الفلكي مصمم خصيصًا لالتقاط الضوء الأحمر المنبعث من ذرات الهيدروجين المتأين. مع نافذة نصف نفاذية (FWHM) بعرض 4.5 نانومتر ، يعد هذا المرشح مثاليًا للتصوير الفوتوغرافي السدم الانبعاثية ، حيث يكون تسجيل الخط الطيفي لألفا الهيدروجين (Hα) أمرًا بالغ الأهمية.

إن ما يميز مرشح Antlia H-Alpha 2 بوصة 4.5 نانومتر EDGE هو قدرته على التخلص بشكل فعال من المكونات غير المرغوب فيها من مصابيح الصوديوم والزئبق ، مع ضمان نقل عالي لخط طيف Hα. وهذا يجعله أداة لا غنى عنها للتصوير الفلكي. ركيزة زجاجية عالية الجودة ، يقلل المرشح من مخاطر انعكاسات الضوء الداخلية التي يمكن أن تضر بجودة الصورة.

على عكس مرشحات النطاق العريض التقليدية ، يتميز مرشح Antlia H-Alpha 2 "4.5 نانومتر EDGE بمنحدر حاد من نافذة النفاذية. وهذا يعني أنه يحافظ على مستوى عالٍ من النفاذية دون انخفاض كبير ناتج عن تحول ذروة النفاذية القصوى (CWL) وبالتالي ، فإن عائلة مرشحات Antlia 4.5nm EDGE متوافقة مع التلسكوبات عبر نطاق واسع من الضوء وتؤدي أداءً جيدًا بشكل استثنائي حتى مع الأنظمة الضوئية ذات الطاقة القصوى للضوء البالغة f / 3.

يرجى ملاحظة أن مرشح Ha لا ينصح به للرصد البصري أو الشمسي بسبب طبيعته المتخصصة.

تشمل الميزات البارزة لفلتر Antlia H-Alpha 2 "4.5 نانومتر EDGE ما يلي:

تم إنشاء مرشح ممر النطاق على ركيزة بصرية عالية الجودة ، مما يوفر أقصى نقل للإشعاع بطول موجة يبلغ 656.3 نانومتر.

التوافق مع الفلكيين مع شدة الضوء حتى f / 3 ، مما يضمن الحد الأدنى من فقدان الإشارة أثناء التصوير الفوتوغرافي للنجوم.

نصف عرض النطاق الترددي للإرسال (FWHM) بقياس 4.5 نانومتر.

كثافة بصرية مكافئة لـ OD5 ، مما يضمن إزالة فعالة للتلوث الضوئي.

المعايير الفنية:

• نوع الفلتر: مرشح ممر الموجة.
• قطر المرشح: 2 ".
• سمك الفلتر: 2 ± 0.05 مم.
• شكل الفلتر: دائري.
• نطاقات التمرير: Hα (656.3 نانومتر).
• موقع ذروة النفاذية (CWL): 656.3 نانومتر.
• نصف عرض النطاق الترددي (FWHM): 4.5 نانومتر.
• الحد الأقصى للإرسال:> 90٪ ± 1 نانومتر من ذروة الإرسال القصوى.
• نطاقات تلوث الضوء المحظورة: مصابيح الزئبق (435.8 نانومتر ، 546.1 نانومتر ، 577 نانومتر ، 578.1 نانومتر) ، مصابيح الصوديوم (598 نانومتر ، 589.6 نانومتر ، 615.4 نانومتر ، 616.1 نانومتر).
• مكافئ الكثافة البصرية للخطوط المحظورة: OD5 (300 - 1000 نانومتر).
• مؤشر جودة السطح (وفقًا لـ MIL-O-13830): 60/40.
• التوازي: 30 ".
• دقة التصنيع (RMS): λ / 4.
• موضوع الحامل: M48x0.75.

تعيين العناصر:

• فلتر Antlia H-Alpha 2 "4.5 نانومتر EDGE.

يضمن:

يأتي فلتر Antlia H-Alpha 2 "4.5 نانومتر EDGE مع ضمان لمدة 3 سنوات من الشركة المصنعة يغطي إزالة طبقات الفلتر والركيزة.