مرشح Antlia H-alpha 3 nm Pro 2 ضيق النطاق

تم تصميم مرشح Antlia H-alpha 3 nm Pro 2 للتصوير الفلكي خصيصًا لالتقاط السدم الانبعاثية عن طريق إرسال الضوء الأحمر بطول موجة 656.3 نانومتر المنبعثة من ذرات الهيدروجين المتأين.هذا المرشح فعال للغاية في تسجيل الخط الطيفي Hα المهم في التصوير الفوتوغرافي للنجوم.

تتمثل إحدى المزايا الرئيسية لمرشح Antlia H-alpha 3 nm Pro 2 "في عرضه نصف الترددي الضيق للغاية البالغ 3 نانومتر فقط. تسمح هذه الميزة بإزالة المكونات غير المرغوب فيها من مصابيح الصوديوم والزئبق مع الحفاظ على نفاذية عالية لـ Hα الخط الطيفي ، وهو أمر بالغ الأهمية لأغراض التصوير الفلكي.

من المهم ملاحظة أن مرشح Hα غير موصى به للملاحظات المرئية. وتتمثل وظيفته الأساسية في تعزيز تسجيل الانبعاث السدم عند استخدامه بالاقتران مع معدات التصوير الفلكي المناسبة.

الميزات الرئيسية لفلتر Antlia H-alpha 3 nm Pro 2 ":

تم تصنيع مرشح ممر الموجة على ركيزة شوت عالية الجودة ، مما يضمن أقصى نقل للإشعاع بطول موجة 656.3 نانومتر.

متوافق مع الفلكيين الذين لديهم شدة ضوئية تصل إلى f / 3 ، مثل أنظمة RASA أو Hyperstar.

نصف عرض ضيق بشكل استثنائي للنطاق المرسل (FWHM = 3 نانومتر).

تضمن الكثافة الضوئية المكافئة (OD5) إزالة فعالة للتلوث الضوئي بمستوى 99.999٪.

المعايير الفنية:

• نوع الفلتر: مرشح ممر الموجة
• قطر المرشح: 2 "
• سمك الفلتر: 2 ± 0.05 مم
• شكل الفلتر: دائري
• النطاقات المنقولة: Hα (656.3 نانومتر)
• موقع أقصى نفاذية الذروة (CWL): 656.3 نانومتر
• نصف عرض النطاق الترددي (FWHM): 3 نانومتر
• الحد الأقصى للانتقال:> 88٪
• العصابات المحظورة: مصابيح الزئبق (435.8 نانومتر ، 546.1 نانومتر ، 577 نانومتر ، 578.1 نانومتر) ، مصابيح الصوديوم (598 نانومتر ، 589.6 نانومتر ، 615.4 نانومتر ، 616.1 نانومتر)
• كفاءة منع التلوث الضوئي:> 99.999٪
• الكثافة البصرية المكافئة للخطوط المحظورة: OD5 (300-1000 نانومتر)
• مؤشر جودة السطح (وفقًا لمعيار MIL-O-13830): 60/40
• التوازي: 30 "
• دقة التنفيذ (RMS): λ / 4

مجموعة المكونات:

• فلتر Antlia H-alpha 3 nm Pro 2 "

يضمن:

يأتي مرشح Antlia H-alpha 3 nm Pro 2 "بضمان من الشركة المصنعة لمدة 3 سنوات ، والذي يغطي إزالة طبقات الفلتر والركيزة.