Antlia S-II 2 "4،5 نانومتر EDGE

مرشح Antlia S-II 2 "4.5 nm EDGE هو مرشح احترافي للتصوير الفلكي الأفضل من نوعه مصمم خصيصًا لالتقاط صور مذهلة للسدم الانبعاثية. مع عرض نافذة نصف نفاذية (FWHM) يبلغ 4.5 نانومتر ، فهو يتفوق في إرسال ضوء بطول موجي 671.6 نانومتر تنبعث من ذرات الكبريت المتأينة المضاعفة ، وهو عنصر حاسم في التصوير الفوتوغرافي للنجوم.

يقدم هذا الفلتر مجموعة فريدة من الميزات التي تميزه. إنه يزيل بشكل فعال المكونات غير المرغوب فيها من مصابيح الصوديوم والزئبق مع الحفاظ على نفاذية عالية للخط الطيفي S-II. يعتبر خط S-II مهمًا بشكل خاص في التصوير الفوتوغرافي للنجوم ، مما يجعل هذا المرشح خيارًا مثاليًا لالتقاط جوهر السدم الانبعاثية. بالإضافة إلى ذلك ، تم إنشاء المرشح باستخدام طبقة زجاجية أساسية عالية الجودة ، مما يقلل من مخاطر انعكاسات الضوء الداخلية التي قد تؤثر على جودة الصورة.

يبرز مرشح Antlia S-II 2 "4.5 نانومتر EDGE مع انحداره الحاد من نافذة النفاذية. على عكس مرشحات النطاق العريض العادية ، فإنه يحافظ على مستوى عالٍ من النفاذية دون التعرض لانخفاض كبير بسبب إزاحة ذروة النفاذية القصوى (CWL تضمن هذه الخاصية الاستثنائية أن عائلة مرشح Antlia 4.5nm EDGE متوافقة مع التلسكوبات ذات شدة الضوء المتفاوتة.

تضمن الشركة المصنعة إمكانية استخدام هذه المرشحات في الأنظمة الضوئية بقوة ضوء قصوى تبلغ f / 3 ، كما أكده تحليل التحول البنفسجي. ومع ذلك ، من المهم ملاحظة أن مرشح S-II غير موصى به للمراقبة البصرية أو المراقبة الشمسية.

الميزات الرئيسية لمرشح Antlia S-II 2 "4.5 نانومتر EDGE:

مرشح تمرير النطاق مصنوع على ركيزة بصرية عالية الجودة مع أقصى نقل للإشعاع عند طول موجة 671.6 نانومتر.

متوافق مع الفلكيين مع شدة الضوء حتى f / 3 ، مما يضمن الحد الأدنى من فقدان الإشارة.

نصف عرض النطاق الترددي للإرسال (FWHM) يبلغ 4.5 نانومتر ، مما يسمح بالترشيح الدقيق للأطوال الموجية المرغوبة.

كثافة بصرية مكافئة OD5 ، مما يضمن إزالة عالية الكفاءة للتلوث الضوئي.

المعايير الفنية:

• نوع الفلتر: مرشح ممر الموجة.
• قطر المرشح: 2 ".
• سمك الفلتر: 2 ± 0.05 مم.
• شكل الفلتر: دائري.
• نطاقات التمرير: S-II (671.6 نانومتر).
• موقع ذروة النفاذية (CWL): 671.6 نانومتر.
• نصف عرض النطاق الترددي (FWHM): 4.5 نانومتر.
• الحد الأقصى للإرسال:> 90٪ ± 1 نانومتر من ذروة الإرسال القصوى.
• نطاقات تلوث الضوء المحظورة: مصابيح الزئبق (435.8 نانومتر ، 546.1 نانومتر ، 577 نانومتر ، 578.1 نانومتر) ، مصابيح الصوديوم (598 نانومتر ، 589.6 نانومتر ، 615.4 نانومتر ، 616.1 نانومتر).
• مكافئ الكثافة البصرية للخطوط المحظورة: OD5 (300 - 1000 نانومتر).
• مؤشر جودة السطح (وفقًا لـ MIL-O-13830): 60/40.
• التوازي: 30 ".
• دقة التصنيع (RMS): λ / 4.
• موضوع الحامل: M48x0.75.

المدرجة في المجموعة:

• مرشح Antlia S-II 2 "4.5 نانومتر EDGE.

يضمن:

يأتي فلتر Antlia S-II 2 "4.5 nm EDGE مع ضمان لمدة 3 سنوات من الشركة المصنعة يغطي إزالة طبقة الفلتر والركيزة.يضمن هذا الضمان راحة البال والاستثمار في معدات التصوير الفلكي عالية الجودة.