فلتر أنطليا H-Alpha 50 مم 4.5 نانومتر EDGE للتصوير الفلكي

نقدم لكم فلتر أنطليا H-Alpha 50 مم 4.5 نانومتر EDGE، وهو فلتر تصوير فلكي عالي الجودة صُمم للمصورين الفلكيين المحترفين. تم تطوير هذا الفلتر المتقدم بنافذة انتقال ضيقة تبلغ 4.5 نانومتر، ومضبوط خصيصًا لالتقاط الطول الموجي 656.3 نانومتر، أي الضوء الأحمر المنبعث من ذرات الهيدروجين المتأينة—وهو أمر ضروري للحصول على صور مذهلة لسدم الانبعاث.

لماذا تختار فلتر أنطليا H-Alpha 50 مم 4.5 نانومتر EDGE؟

• حجب استثنائي للضوء: يقوم بترشيح الضوء غير المرغوب فيه بكفاءة من مصابيح الصوديوم والزئبق، مع ضمان انتقال عالي لخط الطيف Hα.
• تصنيع فائق الجودة: مصنوع من ركيزة زجاجية عالية الجودة لتقليل الانعكاسات الداخلية، مما يعزز وضوح الصورة.
• أداء ثابت: يتميز بانحدار حاد في النفاذية، مع الحفاظ على انتقال ثابت عبر شدة الضوء المختلفة للتلسكوبات حتى f/3.

ملاحظة: هذا الفلتر غير مخصص للرصد البصري أو الشمسي.

الميزات الرئيسية لفلتر أنطليا H-Alpha 50 مم 4.5 نانومتر EDGE:

• مصمم على ركيزة بصرية عالية الجودة مع انتقال أقصى للإشعاع عند 656.3 نانومتر.
• متوافق مع التلسكوبات الفلكية ذات شدة الضوء حتى f/3، لضمان فقدان إشارة ضئيل.
• عرض نطاق الانتقال (FWHM) يبلغ 4.5 نانومتر.
• كثافة بصرية مكافئة OD5، لضمان إزالة فعالة لتلوث الضوء.

المواصفات التقنية:

• نوع الفلتر: فلتر تمرير النطاق
• قطر الفلتر: 50 مم
• سماكة الفلتر: 3 ± 0.05 مم
• شكل الفلتر: دائري
• نطاقات التمرير: Hα (656.3 نانومتر)
• موقع ذروة النفاذية (CWL): 656.3 نانومتر
• عرض النطاق عند نصف القيمة العظمى (FWHM): 4.5 نانومتر
• أقصى نسبة انتقال: >90% ± 1 نانومتر من ذروة الانتقال
• نطاقات تلوث الضوء المحجوبة: مصابيح الزئبق (435.8 نانومتر، 546.1 نانومتر، 577 نانومتر، 578.1 نانومتر)، مصابيح الصوديوم (598 نانومتر، 589.6 نانومتر، 615.4 نانومتر، 616.1 نانومتر)
• الكثافة البصرية المكافئة للخطوط المحجوبة: OD5 (300 - 1000 نانومتر)
• مؤشر جودة السطح (وفقًا لمعيار MIL-O-13830): 60/40
• التوازي: 30 ثانية
• دقة التصنيع (RMS): λ/4

المرفقات:

• فلتر أنطليا H-Alpha 50 مم 4.5 نانومتر EDGE

الضمان:

يقدم المصنع ضمانًا لمدة ثلاث سنوات ضد حدوث أي انفصال للطبقات في الفلتر أو الركيزة، لضمان راحة البال للعملاء.