مرشح النطاق الضيق Antlia SII 3 nm Pro 1,25 بوصة

Antlia SII 3 nm Pro 1.25" هو مرشح متخصص للتصوير الفلكي مصمم لنقل الضوء بطول موجة دقيق يبلغ 671.6 نانومتر، والذي ينبعث من ذرات الكبريت المتأينة المزدوجة. هذا الطول الموجي مهم بشكل خاص لالتقاط صور السدم الانبعاثية.

تم تصميم هذا الفلتر بأقصى قدر من الدقة، مثل منتجات Antlia الأخرى، ويخضع لاختبارات صارمة لجودة السطح، مما يلبي المعايير العسكرية الأكثر صرامة. والجدير بالذكر أنه يتميز بعرض نصف نطاق ضيق بشكل استثنائي يبلغ 3 نانومتر فقط. تتيح هذه الميزة الفريدة للمرشح التخلص بشكل فعال من المكونات غير المرغوب فيها من مصابيح الصوديوم والزئبق مع ضمان معدل نقل عالٍ للخط الطيفي SII - وهو جانب مهم في التصوير الفلكي.

يرجى ملاحظة أن مرشح SII غير مناسب للمراقبة البصرية ولا ينبغي استخدامه مطلقًا لمراقبة الطاقة الشمسية.

الميزات الرئيسية لمرشح Antlia SII 3 nm Pro 1.25 بوصة:

• تم تصميم مرشح Bandpass على ركيزة Schott عالية الجودة، مما يزيد من الإرسال عند 671.6 نانومتر.
• متوافق مع الرسوم البيانية الفلكية ذات شدة الضوء التي تصل إلى f/3 (على سبيل المثال، RASA أو Hyperstar).
• نطاق نصف عرض ضيق للغاية (FWHM = 3 نانومتر) للحصول على أقصى قدر من التباين.
• كثافة بصرية مكافئة OD5، مما يضمن كفاءة بنسبة 99.999% في التخلص من التلوث الضوئي.

المواصفات الفنية:

نوع الفلتر: مرشح ممر الموجة

قطر الفلتر: 1.25 بوصة

سمك الفلتر: 2 ± 0.05 ملم

شكل الفلتر: دائري

النطاقات المرسلة: SII (671.6 نانومتر)

ذروة النفاذية (CWL): 671.6 نانومتر

نصف عرض النطاق الترددي (FWHM): 3 نانومتر

الحد الأقصى للإرسال: > 88%

النطاقات المحظورة: مصابيح الزئبق (435.8 نانومتر، 546.1 نانومتر، 577 نانومتر، 578.1 نانومتر)، مصابيح الصوديوم (598 نانومتر، 589.6 نانومتر، 615.4 نانومتر، 616.1 نانومتر)

كفاءة منع التلوث الضوئي: > 99.999%

الكثافة البصرية المكافئة للخطوط المحجوبة: OD5 (300 - 1000 نانومتر)

مؤشر جودة السطح (حسب معيار MIL-O-13830): 60/40

التوازي: 30 ثانية قوسية

دقة التنفيذ (RMS): χ / 4

مكونات المجموعة:

فلتر انتليا SII 3 نانومتر برو 1.25 بوصة

ضمان:

تقدم الشركة المصنعة ضمانًا لمدة 3 سنوات، يغطي عملية تصفيح المرشح والركيزة.