নিকন P2-CIA কোঅক্সিয়াল ইনসিডেন্ট লাইট ইলুমিনেটর (৬৫৪৬২)

নিকন P2-CIA কোঅক্সিয়াল ইনসিডেন্ট লাইট ইলুমিনেটর একটি আনুষঙ্গিক যা নিকন প্যারালাল অপটিক্স-টাইপ স্টেরিও মাইক্রোস্কোপের সাথে ব্যবহারের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে, যেমন SMZ25 এবং SMZ18 মডেল। এই ইলুমিনেটর কোঅক্সিয়াল এপিস্কোপিক আলোকসজ্জা প্রদান করে, যার মানে এটি পর্যবেক্ষণ অপটিক্সের একই পথে অবজেক্টিভ লেন্সের মাধ্যমে আলো পরিচালনা করে। এই সেটআপটি অস্বচ্ছ বা প্রতিফলিত নমুনার পৃষ্ঠের বিবরণ পরীক্ষা করার জন্য বিশেষভাবে কার্যকর, ছায়াহীন, উচ্চ-কনট্রাস্ট চিত্র সরবরাহ করে। এটি উপাদান বিজ্ঞান, ইলেকট্রনিক্স, ধাতুবিদ্যা এবং গুণমান নিয়ন্ত্রণ অ্যাপ্লিকেশনগুলিতে ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয় যেখানে সুনির্দিষ্ট পৃষ্ঠ পরিদর্শন প্রয়োজন।

অবজেক্টিভ লেন্সের মাধ্যমে সরাসরি নমুনায় আলো চ্যানেল করে কোঅক্সিয়াল এপিস্কোপিক আলোকসজ্জা প্রদান করে, অস্বচ্ছ বা প্রতিফলিত নমুনার সূক্ষ্ম পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলির স্পষ্ট পর্যবেক্ষণের অনুমতি দেয়।

সামঞ্জস্যতা:
নিকন SMZ25 এবং SMZ18 স্টেরিও মাইক্রোস্কোপ এবং অন্যান্য সামঞ্জস্যপূর্ণ প্যারালাল অপটিক্স-টাইপ মডেলের সাথে ব্যবহারের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে।

মূল বৈশিষ্ট্য:

• দৃশ্যমান ক্ষেত্র জুড়ে অভিন্ন, উচ্চ-তীব্রতার আলোকসজ্জা প্রদান করে

• পলিশড, ধাতব, বা পুরু নমুনার ছায়াহীন ইমেজিং সক্ষম করে

• মাইক্রোস্ট্রাকচার, ত্রুটি এবং পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলির বিস্তারিত পর্যবেক্ষণের অনুমতি দেয়

• বহুমুখী ইমেজিংয়ের জন্য ফাইবার অপটিক বা রিং লাইটের মতো অন্যান্য আলোকসজ্জা সিস্টেমের সাথে মিলিত হতে পারে

• বর্ধিত মেরুকরণ এবং কনট্রাস্টের জন্য প্রায়শই 1/4λ প্লেটের সাথে ব্যবহৃত হয়

অ্যাপ্লিকেশন:
পালিশ করা অংশ এবং ধাতব পৃষ্ঠের পরীক্ষা করার জন্য উপাদান বিজ্ঞান এবং ধাতুবিদ্যা
মাইক্রোস্ট্রাকচার এবং ত্রুটি সনাক্ত করার জন্য ইলেকট্রনিক্স এবং সেমিকন্ডাক্টর পরিদর্শন
শিল্প পরিবেশে গুণমান নিয়ন্ত্রণ এবং ব্যর্থতা বিশ্লেষণ
অস্বচ্ছ খনিজ এবং স্ফটিক বিশ্লেষণের জন্য ভূতত্ত্ব এবং খনিজবিদ্যা

এই ইলুমিনেটরটি প্রতিফলিত বা অস্বচ্ছ নমুনার সুনির্দিষ্ট, ছায়াহীন ইমেজিংয়ের জন্য একটি অপরিহার্য সরঞ্জাম, যা বৈজ্ঞানিক এবং শিল্প সেটিংসে উভয় রুটিন পরিদর্শন এবং উন্নত গবেষণাকে সমর্থন করে।