Nikon tarkvara NIS-Elements D dokumentatsioon (68299)

Nikon NIS-Elements D Dokumentatsioon on tarkvarapakett, mis on loodud tõhusaks fotodokumentatsiooniks ja põhiliseks pildianalüüsiks mikroskoopias. Seda kasutatakse laialdaselt laboratoorsetes, tööstuslikes ja teaduslikes keskkondades mikroskoobipiltide jäädvustamiseks, töötlemiseks ja salvestamiseks. Tarkvara pakub intuitiivseid kaamerakontrolle, mõõtevahendeid ja aruandlusfunktsioone, muutes selle sobivaks sellisteks ülesanneteks nagu koe võrdlemine, osakeste analüüs, defektide analüüs ja materjalide kontroll. NIS-Elements D ei ole mõeldud kliiniliseks diagnostiliseks kasutamiseks, kuid see pakub paindlikku töövoogu dokumenteerimiseks ja kvantitatiivseks analüüsiks erinevates teaduslikes rakendustes.

Pakub terviklikku platvormi fotodokumentatsiooniks, põhiliseks mõõtmiseks ja aruandluseks mikroskoopia rakendustes.

Põhifunktsioonid:

• Lihtsad kaamerakontrollid ja eelseadistused lihtsaks pildistamiseks

• Paindlikud pildistamisvõimalused, sealhulgas automaatne XY ja Z juhtimine ning ajaintervalliga pildistamine

• Manuaalsed ja automaatsed mõõtevahendid pikkuse, pindala, loendamise ja morfoloogia jaoks

• Annotatsioonifunktsioonid andmekogumite märkimiseks ja kommenteerimiseks

• Valikuline laiendatud teravussügavuse (EDF) moodul teravate, kõrge kontrastsusega 2D-piltide loomiseks Z-virnadest

• Valikuline kõrge dünaamilise ulatuse (HDR) moodul erinevate säritustega piltide kombineerimiseks, et jäädvustada proovi täielik dünaamiline ulatus

• Makro tugi kohandatud töövoogude ja automatiseerimise jaoks

• Ühe dokumendi liides sujuvaks tööks

• Reaalajas võrdlusvahendid piltide kattumiseks ja võrdlemiseks

• Automaatne objektide loendamine ja lävemeetodil põhinevad mõõtmised andmete eksportimise võimalustega

• Suure pildi õmblemise ja andmebaasi moodulid saadaval edasijõudnud arhiveerimiseks ja aruandluseks

• Kohandatav kasutajaliides mitme monitori toe ja paindliku paneelide paigutusega

Ühilduvus:
Töötab Nikon mikroskoopidega ja on ühilduv laia valiku pildistamisseadmetega. Ei sobi fluorestsentspildistamiseks ega lainepikkuse vahetamiseks.

Rakendused:

• Mikroskoobipiltide dokumenteerimine ja arhiveerimine

• Osakeste ja defektide analüüs

• Kiudude ja tekstiilmaterjalide analüüs

• Koe võrdlemine ja aruandlus

• Tööstuslik kontroll ja teaduslik pildistamine

Lisamoodulid:

• EDF (Laiendatud teravussügavus): Kombineerib Z-virna pildid üheks teravaks pildiks

• HDR (Kõrge dünaamiline ulatus): Jäädvustab ja loob pilte täiustatud dünaamilise ulatusega

• Automatiseeritud mõõtemoodulid edasijõudnud pilditöötluseks

• Tööstuslikud moodulid spetsialiseeritud analüüsiks, nagu betoon, filtrid ja kihipaksus

Kasutajaliides:

• Kohandatav paigutus dokitavate paneelide ja tööriistaribadega

• Tugi mitmele monitorile ja maksimeeritud pildiala

• Olekuriba kuvab kalibreerimise, pildi bitisügavuse, suuruse, piksli koordinaadid ja värvirežiimi

• Võimalused liidese elementide peitmiseks või kuvamiseks kohandatud tööruumi jaoks

NIS-Elements D Dokumentatsioon on oluline tööriist kasutajatele, kes vajavad usaldusväärset ja lihtsasti kasutatavat tarkvara mikroskoobipiltide jäädvustamiseks ja analüüsimiseks, koos võimalustega funktsionaalsuse laiendamiseks täiendavate moodulite abil vastavalt vajadusele.