Nikon C-SSL DIA Plateau Coulissant (65469)

La platine coulissante Nikon C-SSL DIA est un accessoire conçu pour être utilisé avec les stéréomicroscopes Nikon, tels que les modèles SMZ800N, SMZ1270, SMZ1270i, SMZ18 et SMZ25. Cette platine est destinée à l'observation diascopique (lumière transmise) et permet un mouvement fluide et précis de l'échantillon dans n'importe quelle direction avec une légère poussée. Le mécanisme coulissant permet aux utilisateurs d'ajuster facilement la position de l'échantillon dans une plage de déplacement définie, ce qui le rend idéal pour examiner des échantillons plus grands ou pour balayer plusieurs zones sans repositionner l'échantillon à la main. La platine coulissante C-SSL DIA est couramment utilisée dans la recherche, l'éducation et le contrôle de qualité industriel, où une navigation efficace et précise de l'échantillon est essentielle.

Objectif et caractéristiques :

• Conçue pour l'observation diascopique, permettant à la lumière transmise de traverser l'échantillon pour une imagerie claire

• Permet un mouvement sans effort de l'échantillon dans n'importe quelle direction avec une légère poussée

• La plage de déplacement est dans un diamètre de 38 mm, offrant une zone suffisante pour la navigation de l'échantillon

• Facilement installée en retirant la platine standard et en fixant la platine coulissante à la base du microscope

• Compatible avec divers stéréomicroscopes et supports Nikon, y compris ceux utilisés avec les modèles SMZ800N, SMZ1270, SMZ1270i, SMZ18 et SMZ25

Applications :
Recherche biologique pour examiner des lames, de petits organismes ou des sections de tissus minces
Science des matériaux et inspection industrielle pour analyser des pièces, des fibres ou des matériaux en couches
Démonstrations éducatives nécessitant un mouvement fluide et précis de l'échantillon
Processus de contrôle de qualité où un balayage efficace des échantillons est nécessaire

Cette platine coulissante est un accessoire pratique et essentiel pour quiconque a besoin d'effectuer des observations diascopiques détaillées, offrant un mouvement d'échantillon fluide et contrôlé et améliorant l'efficacité du flux de travail sur les systèmes de stéréomicroscopes Nikon.