निकॉन सॉफ़्टवेयर NIS-एलीमेंट्स D प्रलेखन (68299)

निकॉन NIS-Elements D डाक्यूमेंटेशन एक सॉफ़्टवेयर पैकेज है जो माइक्रोस्कोपी में कुशल फोटो-डाक्यूमेंटेशन और बुनियादी छवि विश्लेषण के लिए डिज़ाइन किया गया है। यह प्रयोगशाला, औद्योगिक, और अनुसंधान वातावरण में माइक्रोस्कोप छवियों को कैप्चर करने, प्रोसेस करने और संग्रहीत करने के लिए व्यापक रूप से उपयोग किया जाता है। सॉफ़्टवेयर सहज कैमरा नियंत्रण, माप उपकरण, और रिपोर्टिंग कार्य प्रदान करता है, जो इसे ऊतक तुलना, कण विश्लेषण, दोष विश्लेषण, और सामग्री निरीक्षण जैसे कार्यों के लिए उपयुक्त बनाता है। NIS-Elements D का उपयोग नैदानिक निदान के लिए नहीं किया जाता है, लेकिन यह विभिन्न वैज्ञानिक अनुप्रयोगों में डाक्यूमेंटेशन और मात्रात्मक विश्लेषण के लिए एक लचीला कार्यप्रवाह प्रदान करता है।

माइक्रोस्कोपी अनुप्रयोगों में फोटो-डाक्यूमेंटेशन, बुनियादी माप, और रिपोर्टिंग के लिए एक व्यापक मंच प्रदान करता है।

मुख्य विशेषताएं:

• सरल कैमरा नियंत्रण और आसान छवि कैप्चर के लिए प्रीसेट सेटिंग्स

• लचीले इमेजिंग विकल्प, जिनमें स्वचालित XY और Z नियंत्रण, साथ ही टाइमलैप्स इमेजिंग शामिल हैं

• लंबाई, क्षेत्र, गिनती, और आकारिकी के लिए मैनुअल और स्वचालित माप उपकरण

• डेटासेट पर मार्किंग और टिप्पणी करने के लिए एनोटेशन सुविधाएँ

• वैकल्पिक विस्तारित गहराई फोकस (EDF) मॉड्यूल जो Z-स्टैक्स से तेज, उच्च-कॉन्ट्रास्ट 2D छवियाँ बनाता है

• वैकल्पिक उच्च डायनामिक रेंज (HDR) मॉड्यूल जो विभिन्न एक्सपोज़र वाली छवियों को संयोजित करता है ताकि नमूने की पूरी डायनामिक रेंज को कैप्चर किया जा सके

• कस्टम वर्कफ़्लो और स्वचालन के लिए मैक्रो समर्थन

• सिंगल डॉक्यूमेंट इंटरफेस जो संचालन को सुव्यवस्थित करता है

• छवियों को ओवरले और तुलना करने के लिए लाइव तुलना उपकरण

• स्वचालित वस्तु गिनती और डेटा निर्यात विकल्पों के साथ थ्रेशोल्ड-आधारित माप

• उन्नत आर्काइविंग और रिपोर्टिंग के लिए बड़े छवि सिलाई और डेटाबेस मॉड्यूल उपलब्ध हैं

• कस्टमाइज़ेबल यूजर इंटरफेस जो कई मॉनिटरों और लचीले पैनल व्यवस्था का समर्थन करता है

संगतता:
निकॉन माइक्रोस्कोप के साथ काम करता है और विभिन्न इमेजिंग उपकरणों के साथ संगत है। फ्लोरोसेंस इमेजिंग या वेवलेंथ स्विचिंग के लिए उपयुक्त नहीं है।

अनुप्रयोग:

• माइक्रोस्कोप छवियों का डाक्यूमेंटेशन और आर्काइविंग

• कण और दोष विश्लेषण

• फाइबर और वस्त्र सामग्री विश्लेषण

• ऊतक तुलना और रिपोर्टिंग

• औद्योगिक निरीक्षण और अनुसंधान इमेजिंग

अतिरिक्त मॉड्यूल:

• EDF (विस्तारित गहराई फोकस): Z-स्टैक छवियों को एकल, फोकस में छवि में संयोजित करता है

• HDR (उच्च डायनामिक रेंज): बढ़ी हुई डायनामिक रेंज के साथ छवियों को कैप्चर और बनाता है

• उन्नत छवि प्रसंस्करण के लिए स्वचालित माप मॉड्यूल

• विशिष्ट विश्लेषण के लिए औद्योगिक मॉड्यूल, जैसे कंक्रीट, फिल्टर, और परत मोटाई

उपयोगकर्ता इंटरफेस:

• डॉक करने योग्य पैनल और टूलबार के साथ कस्टमाइज़ेबल लेआउट

• कई मॉनिटरों और अधिकतम छवि क्षेत्र के लिए समर्थन

• स्टेटस बार में कैलिब्रेशन, छवि बिट गहराई, आकार, पिक्सेल निर्देशांक, और रंग मोड प्रदर्शित होता है

• एक अनुकूलित कार्यक्षेत्र के लिए इंटरफेस तत्वों को छिपाने या प्रदर्शित करने के विकल्प

NIS-Elements D डाक्यूमेंटेशन उन उपयोगकर्ताओं के लिए एक आवश्यक उपकरण है जिन्हें माइक्रोस्कोप छवियों को कैप्चर और विश्लेषण करने के लिए विश्वसनीय, उपयोग में आसान सॉफ़्टवेयर की आवश्यकता होती है, जिसमें आवश्यकतानुसार अतिरिक्त मॉड्यूल के माध्यम से कार्यक्षमता का विस्तार करने के विकल्प होते हैं।