Nikon C-SSL DIA klizna pozornica (65469)

Nikon C-SSL DIA klizna pozornica je dodatak dizajniran za korištenje s Nikon stereo mikroskopima, kao što su SMZ800N, SMZ1270, SMZ1270i, SMZ18 i SMZ25. Ova pozornica je namijenjena za dijaskopsku (propuštena svjetlost) promatranje i omogućuje glatko, precizno pomicanje uzorka u bilo kojem smjeru laganim pritiskom. Klizni mehanizam omogućuje korisnicima jednostavno podešavanje položaja uzorka unutar definiranog raspona kretanja, što je idealno za ispitivanje većih uzoraka ili skeniranje preko više područja bez ručnog premještanja uzorka. C-SSL DIA klizna pozornica se često koristi u istraživanju, obrazovanju i industrijskoj kontroli kvalitete, gdje je učinkovita i precizna navigacija uzorkom ključna.

Svrha i značajke:

• Dizajnirana za dijaskopsko promatranje, omogućujući propuštenoj svjetlosti da prolazi kroz uzorak za jasnu sliku

• Omogućuje lako pomicanje uzorka u bilo kojem smjeru laganim pritiskom

• Raspon kretanja je unutar promjera od 38 mm, pružajući dovoljno prostora za navigaciju uzorkom

• Jednostavno se instalira uklanjanjem standardne pozornice i pričvršćivanjem klizne pozornice na bazu mikroskopa

• Kompatibilna s raznim Nikon stereo mikroskopima i postoljima, uključujući one korištene s modelima SMZ800N, SMZ1270, SMZ1270i, SMZ18 i SMZ25

Primjene:
Biološka istraživanja za ispitivanje stakalaca, malih organizama ili tankih presjeka tkiva
Znanost o materijalima i industrijska inspekcija za analizu dijelova, vlakana ili slojevitih materijala
Obrazovne demonstracije koje zahtijevaju glatko i precizno pomicanje uzorka
Procesi kontrole kvalitete gdje je potrebno učinkovito skeniranje uzoraka

Ova klizna pozornica je praktičan i ključan dodatak za svakoga tko treba provoditi detaljna dijaskopska promatranja, nudeći glatko, kontrolirano pomicanje uzorka i poboljšavajući učinkovitost rada na Nikon stereo mikroskopskim sustavima.