우리 회사는 폴란드 개발 기술부의 공식 허가 준비에 참여하고 있으며, 이를 통해 폴란드 측에서는 VAT 없이/우크라이나 측에서는 VAT 없이 모든 이중 용도 드론, 광학 장치 및 휴대용 무선 전화기를 수출할 수 있습니다.
안틀리아 S-II 50 mm 4.5 nm 엣지
470.74 $ Netto (non-EU countries)
아나톨리 리바셰프스키
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세부내용
Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE 천체사진 촬영 필터
Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE는 최고의 이미지 품질을 요구하는 전문 사진가를 위해 정교하게 제작된 최첨단 천체사진 촬영 필터입니다. 4.5 nm 반치폭(FWHM) 전송 윈도우의 정밀한 설계로, 이 필터는 이중 이온화된 황 원자가 방출하는 671.6 nm의 중요한 파장에서 빛을 투과하도록 설계되었습니다. 이 특정 파장대는 방출 성운의 숨막히는 이미지를 포착하는 데 필수적입니다.
이 필터의 주요 특징 중 하나는 나트륨 및 수은 램프에서 발생하는 불필요한 빛을 탁월하게 차단하면서 S-II 스펙트럼 라인에 대해 우수한 투과율을 유지한다는 점입니다. 이 기능은 미세한 디테일 포착이 중요한 천체사진 촬영에서 특히 중요합니다. 필터는 프리미엄 유리 기판으로 제작되어 내부 빛 반사를 최소화하며, 이미지가 더욱 선명하고 또렷하게 표현됩니다.
Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE 필터가 기존의 광대역 필터와 차별화되는 점은 바로 투과 윈도우의 가파른 경사입니다. 일반 필터와 달리 Antlia 필터는 중심 파장(CWL)의 이동에도 전송률이 크게 감소하지 않고 높은 투과율을 유지합니다. 이 독특한 기능으로 인해 Antlia 4.5 nm EDGE 필터는 다양한 광량의 망원경에 적응할 수 있으며, 최대 광력 f/3의 광학 시스템에서도 완벽하게 작동하는 것으로 엄격히 테스트되었습니다.
참고: 이 S-II 필터는 천체사진 촬영 전용으로 설계되었으며, 육안 관측이나 태양 관측에는 권장되지 않습니다.
Antlia S-II 50mm 4.5nm EDGE 필터의 주요 특징:
- 671.6 nm 파장에서 최대 투과를 위한 고품질 광학 기판 사용
- 최대 f/3의 광량을 가진 아스트로그래프와 호환 가능, 신호 손실 최소화
- 정밀한 파장 분리를 위한 4.5 nm 반치폭(FWHM) 적용
- 광학 밀도 OD5로, 광공해 효과적으로 제거
기술 사양:
- 필터 종류: 밴드패스 필터
- 필터 지름: 50 mm
- 필터 두께: 3 ± 0.05 mm
- 필터 형태: 원형
- 통과 대역: S-II (671.6 nm)
- 최대 투과 파장(CWL): 671.6 nm
- 반치폭(FWHM): 4.5 nm
- 최대 투과율: 최대 투과 피크에서 >90% ± 1 nm
- 차단되는 광공해 대역: 수은 램프(435.8 nm, 546.1 nm, 577 nm, 578.1 nm), 나트륨 램프(598 nm, 589.6 nm, 615.4 nm, 616.1 nm)
- 차단선에 해당하는 광학 밀도: OD5 (300 - 1000 nm)
- 표면 품질 지수: 60/40 (MIL-O-13830 기준)
- 평행도: 30"
- 제조 정확도(RMS): λ/4
구성품:
- Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE 필터
보증:
Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE 필터는 필터 및 기판의 박리 현상에 대해 3년 제조사 보증을 제공합니다.
상세정보
개발 기술부의 공식 허가
우리 회사는 폴란드 개발 기술부의 공식 허가 준비에 참여하고 있으며 이를 통해 폴란드 측에서는 VAT 없이/우크라이나 측에서는 VAT 없이 모든 이중 용도 드론, 광학 장치 및 휴대용 무선 전화기를 수출할 수 있습니다.