Omegon Filters Pro Veil SII 3nm 2'' (82013)

Omegon Filters Pro Veil SII 3 нм 2" (82013)

Искусственное освещение в населённых пунктах освещает ночное небо и снижает контраст, что затрудняет обнаружение слабых объектов глубокого космоса. Световое загрязнение от уличных фонарей и других источников часто скрывает тонкие структуры туманностей.

Эмиссионные туманности отличаются от галактик, шаровых скоплений и отражательных туманностей тем, что излучают свет на очень определённых длинах волн. Наиболее заметные эмиссионные линии включают:

• H-альфа: 656,3 нм

• H-бета: 486,1 нм

• O-III: 495,9 нм и 500,7 нм

• S-II: 671,7 нм и 673,1 нм

Хотя человеческий глаз в первую очередь чувствителен к линиям O-III и H-бета, камеры могут фиксировать все эти длины волн, включая глубокое красное излучение водорода и ионизированной серы.

Фильтр Omegon Pro Veil SII 3 нм — это узкополосный фильтр, предназначенный для изоляции эмиссионных линий SII на 671,7 нм и 673,1 нм. Благодаря очень узкой полосе пропускания в 3 нм он эффективно подавляет искусственное световое загрязнение, одновременно пропуская линии серы-II с высокой эффективностью.

Эти длины волн характерны для многих планетарных туманностей, эмиссионных туманностей и остатков сверхновых. Изолируя сигнал SII, фильтр повышает контраст и раскрывает тонкие структурные детали внутри этих объектов.

Для астрофотографии рекомендуется использовать монохромные камеры для достижения наилучших результатов. Комбинируя экспозиции, снятые с фильтрами SII, OIII и H-альфа, можно создавать высококонтрастные составные изображения, чётко отображающие сложные структуры туманностей.

Технические характеристики

Размер оправы: 2 дюйма
Посадочный диаметр: 2 дюйма
Центральная длина волны: SII 671,7–673,1 нм
Полоса пропускания (на полувысоте): 3 нм
Материал: стекло

Тип: фильтр
Конструкция: узкополосный (UHC-тип)
Серия: Veil