Antlia S-II 50 毫米 4.5 奈米 EDGE

Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE 天文攝影濾鏡

Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE 是專為追求最高影像品質的專業攝影師精心打造的尖端天文攝影濾鏡。其精準的 4.5 nm 半高寬（FWHM）通光窗口，專為傳遞 671.6 nm 這一關鍵波長的光線而設計，此波長正是雙電離硫原子所發射。這一特定範圍對於捕捉壯麗的發射星雲影像極為重要。

這款濾鏡的一大亮點是其卓越的能力：能有效阻擋鈉燈與汞燈的雜散光，同時保持對 S-II 光譜線的高透光率。這項特性對於天文攝影來說尤為重要，因為捕捉細節至關重要。濾鏡採用高級光學基板製成，以減少內部光反射，確保影像清晰銳利。

Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE 濾鏡與傳統寬波段濾鏡的最大區別，在於其通光窗口的陡峭斜率。與一般濾鏡不同，Antlia 濾鏡即使中間波長（CWL）略有偏移，仍能維持高透光率而不明顯下降。這一獨特特性讓 Antlia 4.5 nm EDGE 濾鏡能適應不同光強的望遠鏡，並經過嚴格測試，可於最大光圈 f/3 的光學系統中完美表現。

請注意，此 S-II 濾鏡專為天文攝影設計，不建議用於目視觀察或太陽觀測。

Antlia S-II 50mm 4.5nm EDGE 濾鏡特色：

• 採用高品質光學基板製造，確保 671.6 nm 波長下的最大透光率。
• 兼容光圈至 f/3 的天文攝影鏡頭，確保訊號損失最小。
• 擁有 4.5 nm 半高寬（FWHM），可精確分離所需波長。
• 光學密度達 OD5，有效去除光害。

技術參數：

• 濾鏡類型： 通帶濾鏡
• 濾鏡直徑： 50 mm
• 濾鏡厚度： 3 ± 0.05 mm
• 濾鏡形狀： 圓形
• 通帶範圍： S-II（671.6 nm）
• 峰值透光率（CWL）： 671.6 nm
• 半高寬（FWHM）： 4.5 nm
• 最大透光率： >90% ± 1 nm 於最大透光峰值處
• 阻擋光害波段： 汞燈（435.8 nm、546.1 nm、577 nm、578.1 nm）、鈉燈（598 nm、589.6 nm、615.4 nm、616.1 nm）
• 阻擋線之等效光學密度： OD5（300 - 1000 nm）
• 表面品質指數： 60/40（依 MIL-O-13830 標準）
• 平行度： 30"
• 製造精度（RMS）： λ/4

產品內容：

• Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE 濾鏡

保固：

Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE 濾鏡享有三年原廠保固，保障濾鏡及基板層剝離問題。