Antlia S-II 50 مم 4،5 نانومتر EDGE

يعتبر Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE مرشحًا متقدمًا للتصوير الفلكي مصمم للمحترفين الذين يسعون للحصول على جودة صورة مثالية. مع نافذة إرسال نصف العرض (FWHM) تبلغ 4.5 نانومتر ، ينقل هذا المرشح بشكل فعال الضوء بطول موجي يبلغ 671.6 نانومتر تنبعث من ذرات الكبريت المتأينة المزدوجة. هذا النطاق المحدد مهم عند التقاط صور مذهلة للسدم الانبعاثية.

تكمن الميزة الرئيسية لهذا المرشح في قدرته على التخلص من المكونات غير المرغوب فيها المنبعثة من مصابيح الصوديوم والزئبق مع الحفاظ على نفاذية عالية للخط الطيفي S-II. هذا الخط الطيفي مهم بشكل خاص في التصوير الفلكي ، مما يجعل مرشح Antlia S-II 50 مم 4.5 نانومتر EDGE أداة قيمة لالتقاط التفاصيل المعقدة. تم تصنيع الفلتر بركيزة زجاجية عالية الجودة ، مما يقلل من مخاطر انعكاسات الضوء الداخلية ، مما يضمن صورًا واضحة ونقية.

ما يميز مرشح Antlia S-II 50 مم 4.5 نانومتر EDGE بصرف النظر عن مرشحات النطاق العريض التقليدية هو الانحدار الحاد لنافذة النفاذية. على عكس المرشحات العادية ، فإنه لا يتعرض لانخفاض كبير في النفاذية بسبب تحول ذروة النفاذية القصوى (CWL). تسمح هذه الخاصية الفريدة لعائلة فلاتر Antlia 4.5 nm EDGE بالتكيف بسلاسة مع التلسكوبات ذات شدة الضوء المتفاوتة. وفقًا للشركة المصنعة ، خضع المرشح لتحليلات التحول البنفسجي وتم التأكيد على أنه يعمل بشكل لا تشوبه شائبة مع الأنظمة البصرية التي تتميز بقوة ضوء قصوى تبلغ f / 3.

من المهم ملاحظة أن مرشح S-II لا ينصح به لأغراض المراقبة البصرية أو المراقبة الشمسية نظرًا لطبيعته المتخصصة.

يسلط الضوء على مرشح Antlia S-II 50mm 4.5nm EDGE:

تم إنشاء مرشح تمرير النطاق على ركيزة بصرية عالية الجودة ، مما يزيد من إرسال الإشعاع عند طول موجة 671.6 نانومتر.

متوافق مع علم الفلك مع شدة ضوء تصل إلى f / 3 ، مما يضمن الحد الأدنى من فقدان الإشارة أثناء التصوير الفوتوغرافي للنجوم.

يبلغ عرض نصف النطاق الترددي للإرسال (FWHM) 4.5 نانومتر ، مما يسمح بعزل دقيق للأطوال الموجية المرغوبة.

تضمن الكثافة البصرية المكافئة لـ OD5 إزالة عالية الكفاءة للتلوث الضوئي.

المعايير الفنية:

• نوع الفلتر: مرشح ممر الموجة
• قطر المرشح: 50 مم
• سمك الفلتر: 3 ± 0.05 مم
• شكل الفلتر: دائري
• نطاقات التمرير: S-II (671.6 نانومتر)
• ذروة النفاذية (CWL): 671.6 نانومتر
• نصف عرض النطاق الترددي (FWHM): 4.5 نانومتر
• الحد الأقصى للإرسال:> 90٪ ± 1 نانومتر من ذروة الإرسال القصوى
• نطاقات تلوث الضوء المحظورة: مصابيح الزئبق (435.8 نانومتر ، 546.1 نانومتر ، 577 نانومتر ، 578.1 نانومتر) ، مصابيح الصوديوم (598 نانومتر ، 589.6 نانومتر ، 615.4 نانومتر ، 616.1 نانومتر)
• مكافئ الكثافة البصرية للخطوط المحظورة: OD5 (300 - 1000 نانومتر)
• مؤشر جودة السطح (وفقًا لـ MIL-O-13830): 60/40
• التوازي: 30 "
• دقة التصنيع (RMS): λ / 4

تعيين العناصر:

• مرشح Antlia S-II 50 مم 4.5 نانومتر EDGE

يضمن:

مرشح Antlia S-II 50 مم 4.5 نانومتر EDGE مدعوم بضمان من الشركة المصنعة لمدة 3 سنوات ، مما يضمن الحماية ضد تسرب الفلتر والركيزة.