Antlia S-II 50 mm 4,5 nm エッジ

Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE は、最適な画質を求めるプロフェッショナル向けに設計された高度な天体写真フィルターです。 4.5 nm の半値幅透過窓 (FWHM) を備えたこのフィルターは、二重にイオン化された硫黄原子によって放出される 671.6 nm の波長の光を効果的に透過します。この特定の範囲は、発光星雲の見事な画像を撮影する際に非常に重要です。

このフィルターの主な特徴は、S-II スペクトル線の高い透過率を維持しながら、ナトリウム ランプや水銀ランプから放射される不要な成分を除去する能力にあります。このスペクトル線は天体写真において特に重要であり、Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE フィルターは複雑な細部を捉えるための貴重なツールとなります。このフィルターは高品質のガラス基板で製造されており、内部光の反射のリスクを最小限に抑え、鮮明で鮮明な画像を保証します。

Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE フィルターが従来の広帯域フィルターと異なる点は、透過率ウィンドウの急勾配です。通常のフィルターとは異なり、最大透磁率ピーク（CWL）のシフトによる透過率の大幅な低下がありません。このユニークな特性により、Antlia 4.5 nm EDGE ファミリのフィルターは、さまざまな光強度の望遠鏡にシームレスに適応できます。メーカーによれば、このフィルターはバイオレットシフト分析を受けており、最大光パワーが f/3 の光学システムで問題なく動作することが確認されています。

S-II フィルターはその特殊な性質のため、目視観測や太陽観測の目的には推奨されないことに注意することが重要です。

Antlia S-II 50mm 4.5nm EDGE フィルターのハイライト:

高品質の光学基板上に構築されたバンドパス フィルターは、671.6 nm の波長での放射の透過を最大化します。

最大f/3の光量の天体写真に対応し、天体写真撮影時の信号損失を最小限に抑えます。

透過半値幅 (FWHM) は 4.5 nm で、必要な波長を正確に分離できます。

OD5 と同等の光学濃度により、光害の高効率除去が保証されます。

技術パラメータ:

• フィルタータイプ: バンドパスフィルター
• フィルター径：50mm
• フィルター厚さ：3±0.05mm
• フィルター形状：丸型
• 通過帯域：S-II（671.6nm）
• ピーク透過率 (CWL): 671.6 nm
• 半値幅 (FWHM): 4.5 nm
• 最大透過率: >90% ± 1 nm (最大透過率ピークから)
• 遮断される光害バンド: 水銀ランプ (435.8 nm、546.1 nm、577 nm、578.1 nm)、ナトリウムランプ (598 nm、589.6 nm、615.4 nm、616.1 nm)
• ブロックされたラインに相当する光学濃度: OD5 (300 - 1000 nm)
• 表面品質指数 (MIL-O-13830 による): 60/40
• 平行度: 30"
• 製造精度(RMS): λ/4

要素を設定します:

• Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE フィルター

保証：

Antlia S-II 50 mm 4.5 nm EDGE フィルターには 3 年間のメーカー保証が付いており、フィルターと基板の層間剥離に対する保護が保証されています。