Наша компанія бере участь у підготовці офіційних дозволів від Міністерства розвитку та технологій Польщі, які дозволяють нам експортувати всі дрони подвійного призначення, оптику та портативні радіотелефони без ПДВ з польської сторони / без ПДВ з української сторони.
Нікон P-CI QL1X Lambda/4 пластина (65466)
Пластина Nikon P-CI QL1X Lambda/4 є оптичним аксесуаром, призначеним для використання в поляризаційній мікроскопії, особливо в таких галузях, як геологія, мінералогія, матеріалознавство та біологія. Ця пластина чвертьхвильова (λ/4) вставляється в слот компенсатора сумісних поляризаційних мікроскопів Nikon, щоб ввести певний зсув фази між звичайними та незвичайними променями в двопроменезаломлюючому зразку.
Кароль Лось
Менеджер по продукції
/ ![]()
+48603969934
+48507526097
[email protected]
Пластина Nikon P-CI QL1X Lambda/4 є оптичним аксесуаром, призначеним для використання в поляризаційній мікроскопії, особливо в таких галузях, як геологія, мінералогія, матеріалознавство та біологія. Ця чвертьхвильова (λ/4) пластина вставляється в слот компенсатора сумісних поляризаційних мікроскопів Nikon, щоб ввести певний фазовий зсув між звичайними та незвичайними променями в двопроменезаломлюючому зразку. Змінюючи стан поляризації світла, пластина підвищує контраст зображення і дозволяє користувачам спостерігати інтерференційні кольори та вимірювати оптичні властивості, такі як затримка та орієнтація. Це цінний інструмент для детального аналізу та кількісних досліджень анізотропних матеріалів.
Використовується в поляризаційних мікроскопах для зміни стану поляризації світла, що дозволяє підвищити контраст і провести детальний аналіз двопроменезаломлюючих зразків.
Сумісність:
Підходить для слота компенсатора або аксесуара поляризаційних мікроскопів Nikon, включаючи моделі, такі як SMZ1270 і SMZ800N.
Ключові особливості:
-
Вводить чвертьхвильовий (λ/4) фазовий зсув між ортогональними компонентами поляризації
-
Дозволяє спостерігати інтерференційні кольори та вимірювати оптичну затримку
-
Корисна для визначення орієнтації та оптичних властивостей кристалів, мінералів та інших анізотропних матеріалів
-
Може бути поєднана з іншими компенсаторами для розширеного аналізу поляризації
Застосування:
Геологія та мінералогія для ідентифікації мінералів та вимірювання двопроменезаломлення
Матеріалознавство для аналізу полімерів, волокон та кристалічних структур
Дослідження та освіта в оптичній мінералогії та характеристиці матеріалів
Ця пластина є важливим аксесуаром для розширеної поляризаційної мікроскопії, забезпечуючи точний контроль над станом поляризації світла та підтримуючи точні оптичні вимірювання різноманітних двопроменезаломлюючих зразків.
Наша компанія бере участь у підготовці офіційних дозволів від Міністерства розвитку та технологій Польщі, які дозволяють нам експортувати всі дрони подвійного призначення, оптику та портативні радіотелефони без ПДВ з польської сторони / без ПДВ з української сторони.