Програмне забезпечення Nikon NIS PLUG-IN (EDF) (65557)

Плагін Nikon NIS є додатковим програмним модулем для платформи зображень Nikon NIS-Elements, розробленим для покращення мікроскопічних зображень шляхом створення чітких, повністю сфокусованих зображень з даних Z-стека. Цей плагін широко використовується в дослідницьких, лабораторних та промислових середовищах, де зразки мають нерівні поверхні або потребують детального фокусування на різних глибинах. Поєднуючи найбільш сфокусовані області з декількох зображень, зроблених на різних фокальних площинах, плагін EDF (Extended Depth of Focus) створює одне висококонтрастне 2D зображення або навіть 3D представлення. Ця можливість особливо цінна для документування, аналізу та представлення складних зразків, які не можуть бути захоплені в повній деталізації на одній фокальній площині.

Плагін EDF (Extended Depth of Focus) дозволяє користувачам об'єднувати серію зображень, захоплених на різних позиціях по осі Z, в одне повністю сфокусоване зображення. Це досягається шляхом вибору найчіткіших областей з кожного зображення в Z-стеці та їх об'єднання в одну сфокусовану проекцію.

Ключові функції:

• Об'єднує зображення Z-стека для створення повністю сфокусованого 2D зображення

• Підтримує створення стереовізії та 3D поверхневих зображень для віртуальної 3D візуалізації

• Пропонує інструменти для вирівнювання послідовностей Z-стека для корекції апаратних зсувів під час захоплення зображень

• Дозволяє користувачам переглядати результат як стандартне кольорове або градаційне зображення, 3D модель або 3D анагліф, придатний для перегляду з 3D окулярами

• Інтегрується з інструментами вимірювання та аналізу NIS-Elements для подальшої кількісної оцінки сфокусованого зображення

Сумісність:
Працює як плагін з програмним забезпеченням Nikon NIS-Elements, включаючи версії Advanced Research (AR), Basic Research (BR) та Documentation (D). Сумісний з форматом файлів ND2 та підтримує багатовимірні робочі процеси зображень.

Застосування:

• Зображення в біології та матеріалознавстві

• Документування зразків з нерівними або шаруватими поверхнями

• Дослідження, що вимагають висококонтрастних, повністю сфокусованих зображень для аналізу або публікації

• Створення 3D моделей з даних мікроскопа

Основні характеристики:

• Автоматичне вирівнювання та фокусування стеку зображень Z-серії

• Зручний інтерфейс з виділеними командами EDF в меню програмного забезпечення

• Гнучкі варіанти виводу, включаючи 2D проекції та віртуальні 3D зображення

• Безшовна інтеграція з іншими модулями NIS-Elements та інструментами управління базами даних

Цей плагін є необхідним для всіх, хто використовує мікроскопи Nikon для документування або аналізу зразків з різною висотою поверхні, забезпечуючи чітке захоплення кожної деталі в одному зображенні або 3D моделі.