Nikon Yazılımı NIS PLUG-IN (EDF) (65557)

Nikon NIS Eklentisi , Nikon’un NIS-Elements görüntüleme platformu için ek bir yazılım modülüdür ve Z-yığın verilerinden keskin, tamamen odakta görüntüler oluşturmayı mümkün kılarak mikroskop görüntülemeyi geliştirmek için tasarlanmıştır. Bu eklenti, örneklerin düzensiz yüzeylere sahip olduğu veya farklı derinliklerde ayrıntılı odaklanma gerektirdiği araştırma, laboratuvar ve endüstriyel ortamlarda yaygın olarak kullanılır. Farklı odak düzlemlerinde çekilen birden fazla görüntüden en odaklanmış bölgeleri birleştirerek, EDF (Genişletilmiş Odak Derinliği) eklentisi tek bir yüksek kontrastlı 2D görüntü veya hatta 3D temsiller üretir. Bu yetenek, tek bir odak düzlemiyle tam ayrıntıda yakalanamayan karmaşık örnekleri belgelemek, analiz etmek ve sunmak için özellikle değerlidir.

EDF (Genişletilmiş Odak Derinliği) eklentisi, kullanıcıların farklı Z-ekseni pozisyonlarında çekilen bir dizi görüntüyü tek bir tamamen odaklanmış görüntüye birleştirmesine olanak tanır. Bu, Z-yığınındaki her görüntüden en keskin bölgeleri seçip bunları tek bir odakta projeksiyona birleştirerek gerçekleştirilir.

Ana Fonksiyonlar:

• Z-yığın görüntülerini birleştirerek tamamen odakta bir 2D görüntü oluşturur

• Sanal 3D görselleştirme için stereovizyon ve 3D yüzey görüntüleri oluşturmayı destekler

• Görüntü alımı sırasında donanım kaymalarını düzeltmek için Z-yığın dizilerini hizalama araçları sunar

• Kullanıcıların sonucu standart renkli veya gri tonlamalı bir görüntü, bir 3D model veya 3D gözlüklerle izlemeye uygun bir 3D anaglif olarak görmelerini sağlar

• Odaklanmış görüntünün daha fazla nicel değerlendirmesi için NIS-Elements’in ölçüm ve analiz araçlarıyla entegre olur

Uyumluluk:
Nikon NIS-Elements yazılımı ile eklenti olarak çalışır, Gelişmiş Araştırma (AR), Temel Araştırma (BR) ve Dokümantasyon (D) sürümleri dahil. ND2 dosya formatı ile uyumludur ve çok boyutlu görüntüleme iş akışlarını destekler.

Uygulamalar:

• Biyolojik ve malzeme bilimi görüntüleme

• Düzensiz veya katmanlı yüzeylere sahip örneklerin belgelenmesi

• Analiz veya yayın için yüksek kontrastlı, tamamen odaklanmış görüntüler gerektiren araştırmalar

• Mikroskop verilerinden 3D modellerin oluşturulması

Başlıca Özellikler:

• Z-serisi görüntü verilerinin otomatik hizalanması ve odak yığılması

• Yazılım menüsünde özel EDF komutları ile kullanıcı dostu arayüz

• 2D projeksiyonlar ve sanal 3D görüntüler dahil esnek çıktı seçenekleri

• Diğer NIS-Elements modülleri ve veritabanı yönetim araçları ile sorunsuz entegrasyon

Bu eklenti, Nikon mikroskoplarını kullanarak değişken yüzey yüksekliklerine sahip örnekleri belgelemek veya analiz etmek isteyen herkes için gereklidir ve her ayrıntının tek bir görüntü veya 3D modelde net bir şekilde yakalanmasını sağlar.