Nikon tarkvara NIS PLUG-IN (EDF) (65557)

Nikon NIS Plug-in on täiendav tarkvaramoodul Nikoni NIS-Elements pildiplatvormile, mis on loodud mikroskoobi pildistamise täiustamiseks, võimaldades luua teravaid, täielikult fookuses olevaid pilte Z-pinu andmetest. Seda pluginit kasutatakse laialdaselt teadus-, labori- ja tööstuskeskkondades, kus proovid on ebaühtlase pinnaga või vajavad detailset fookust erinevatel sügavustel. Kombineerides kõige teravamad piirkonnad mitmest erinevatel fookustasanditel tehtud pildist, toodab EDF (Extended Depth of Focus) plugin ühe kõrge kontrastsusega 2D pildi või isegi 3D esitlusi. See võimekus on eriti väärtuslik keerukate proovide dokumenteerimiseks, analüüsimiseks ja esitamiseks, mida ei saa täielikult jäädvustada ühe fookustasandiga.

EDF (Extended Depth of Focus) plugin võimaldab kasutajatel ühendada seeria pilte, mis on tehtud erinevatel Z-telje positsioonidel, üheks täielikult fookuses olevaks pildiks. See saavutatakse, valides iga Z-pinu pildi teravaimad piirkonnad ja kombineerides need üheks fookuses projektsiooniks.

Põhifunktsioonid:

• Kombineerib Z-pinu pildid, et luua täielikult fookuses 2D pilt

• Toetab stereonägemise ja 3D pindpiltide loomist virtuaalseks 3D visualiseerimiseks

• Pakub tööriistu Z-pinu järjestuste joondamiseks, et korrigeerida riistvara nihkeid pildistamise ajal

• Võimaldab kasutajatel vaadata tulemust standardse värvi- või halltoonipildina, 3D mudelina või 3D anaglüüfina, mis sobib vaatamiseks 3D prillidega

• Integreerub NIS-Elements'i mõõtmis- ja analüüsitööriistadega, et võimaldada fookuses oleva pildi edasist kvantitatiivset hindamist

Ühilduvus:
Töötab plugina kujul koos Nikon NIS-Elements tarkvaraga, sealhulgas Advanced Research (AR), Basic Research (BR) ja Documentation (D) versioonidega. Ühildub ND2 failivorminguga ja toetab multidimensionaalseid pildistamise töövooge.

Rakendused:

• Bioloogia ja materjaliteaduse pildistamine

• Ebaühtlase või kihilise pinnaga proovide dokumenteerimine

• Uuringud, mis vajavad kõrge kontrastsusega, täielikult fookuses olevaid pilte analüüsiks või avaldamiseks

• 3D mudelite loomine mikroskoobi andmetest

Põhijooned:

• Automatiseeritud joondamine ja fookuse virnastamine Z-seeria pildiandmetega

• Kasutajasõbralik liides koos spetsiaalsete EDF käskudega tarkvara menüüs

• Paindlikud väljundvõimalused, sealhulgas 2D projektsioonid ja virtuaalsed 3D pildid

• Sujuv integreerimine teiste NIS-Elements moodulite ja andmebaasi haldustööriistadega

See plugin on hädavajalik kõigile, kes kasutavad Nikoni mikroskoope, et dokumenteerida või analüüsida erineva pinnakõrgusega proove, tagades, et iga detail on selgelt jäädvustatud ühes pildis või 3D mudelis.