Nikon C-SSL DIA Etapa Deslizante (65469)

El Nikon C-SSL DIA Sliding Stage es un accesorio diseñado para su uso con microscopios estereoscópicos Nikon, como el SMZ800N, SMZ1270, SMZ1270i, SMZ18 y SMZ25. Este escenario está destinado a la observación diascópica (luz transmitida) y proporciona un movimiento suave y preciso de la muestra en cualquier dirección con un suave empuje. El mecanismo deslizante permite a los usuarios ajustar fácilmente la posición de la muestra dentro de un rango de desplazamiento definido, lo que lo hace ideal para examinar especímenes más grandes o escanear múltiples áreas sin reposicionar la muestra manualmente. El C-SSL DIA Sliding Stage se utiliza comúnmente en investigación, educación y control de calidad industrial, donde la navegación eficiente y precisa de muestras es esencial.

Propósito y Características:

• Diseñado para la observación diascópica, permitiendo que la luz transmitida pase a través de la muestra para una imagen clara

• Permite un movimiento sin esfuerzo de la muestra en cualquier dirección con un ligero empuje

• El rango de desplazamiento es dentro de un diámetro de 38 mm, proporcionando un área amplia para la navegación de la muestra

• Fácil de instalar quitando la placa de escenario estándar y adjuntando el escenario deslizante a la base del microscopio

• Compatible con varios microscopios estereoscópicos Nikon y soportes, incluidos los utilizados con los modelos SMZ800N, SMZ1270, SMZ1270i, SMZ18 y SMZ25

Aplicaciones:
Investigación biológica para examinar portaobjetos, pequeños organismos o secciones delgadas de tejido
Ciencia de materiales e inspección industrial para analizar partes, fibras o materiales en capas
Demostraciones educativas que requieren un movimiento suave y preciso de la muestra
Procesos de control de calidad donde es necesario un escaneo eficiente de muestras

Este escenario deslizante es un accesorio práctico y esencial para cualquiera que necesite realizar observaciones diascópicas detalladas, ofreciendo un movimiento suave y controlado de la muestra y mejorando la eficiencia del flujo de trabajo en los sistemas de microscopios estereoscópicos Nikon.