Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 doska (65463)

Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 platňa je príslušenstvo štvrťvlnovej platne navrhnuté na použitie s Nikon P2-CIA koaxiálnym osvetľovačom incidentného svetla na stereomikroskopoch, ako sú SMZ25 a SMZ18. Táto optická platňa sa používa v polarizovanej svetelnej mikroskopii na zvýšenie kontrastu a odhalenie jemných detailov v dvojlomných alebo reflexných vzorkách. Zavedením presného fázového posunu medzi ortogonálnymi zložkami polarizovaného svetla umožňuje platňa pokročilé polarizačné techniky, ako je pozorovanie interferenčných farieb a konverzia medzi lineárnou a kruhovou polarizáciou. Je obzvlášť cenná v materiálovej vede, geológii, elektronike a kontrole kvality, kde je potrebná podrobná analýza povrchu a hodnotenie optických vlastností.

Táto štvrťvlnová (λ/4) platňa zavádza 90-stupňový fázový posun medzi obyčajnými a mimoriadnymi lúčmi v polarizovanom svetle, čo umožňuje konverziu medzi lineárne a kruhovo polarizovaným svetlom.

Kompatibilita:
Navrhnuté na použitie s Nikon P2-CIA koaxiálnym osvetľovačom incidentného svetla a kompatibilné so stereomikroskopmi ako SMZ25 a SMZ18, zvyčajne pri použití 1x objektívov.

Kľúčové vlastnosti:

• Poskytuje presné štvrťvlnové (λ/4) spomalenie, zvyčajne optimalizované pre 550 nm (zelené svetlo)

• Zvyšuje viditeľnosť interferenčných farieb a umožňuje analýzu rozdielov v optickej dráhe v dvojlomných materiáloch

• Umožňuje kvalitatívne aj kvantitatívne hodnotenie optických vlastností, ako sú spomalenie a orientácia

• Užitočné na elimináciu zánikových pásov a zlepšenie jasnosti obrazu pri štúdiu kryštálov, minerálov, polymérov a iných anizotropných vzoriek

• Jednoducho sa vkladá pod uhlom 45 stupňov k polarizátoru a analyzátoru pre správnu funkciu

Aplikácie:
Materiálová veda na analýzu vlákien, polymérov a kryštalických štruktúr
Geológia a mineralógia na identifikáciu minerálov a meranie dvojlomu
Elektronika a kontrola polovodičov na podrobnú analýzu povrchu
Kontrola kvality a výskum zahŕňajúci pokročilé polarizačné techniky

Táto platňa je nevyhnutným nástrojom pre každého, kto vykonáva pokročilú polarizačnú mikroskopiu, poskytuje presnú kontrolu nad polarizačným stavom svetla a podporuje vysokokontrastné, presné zobrazovanie širokej škály dvojlomných a reflexných vzoriek.