Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 lemez (65463)

A Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 lemez egy negyedhullámú lemez tartozék, amelyet a Nikon P2-CIA Koaxiális Beeső Fény Megvilágítóval való használatra terveztek sztereó mikroszkópokon, mint például az SMZ25 és SMZ18. Ez az optikai lemez polarizált fény mikroszkópiában használatos a kontraszt fokozására és a kettősen törő vagy visszaverő minták finom részleteinek feltárására. Azáltal, hogy pontos fáziseltolást vezet be a polarizált fény ortogonális komponensei között, a lemez lehetővé teszi az előrehaladott polarizációs technikákat, mint például az interferenciaszínek megfigyelését és a lineáris és körkörös polarizáció közötti átalakítást. Különösen értékes az anyagtudományban, geológiában, elektronikában és minőségellenőrzésben, ahol részletes felületelemzésre és optikai tulajdonságok értékelésére van szükség.

Ez a negyedhullámú (λ/4) lemez 90 fokos fáziseltolást vezet be a polarizált fény rendes és rendkívüli sugarai között, lehetővé téve a lineáris és körkörös polarizált fény közötti átalakítást.

Kompatibilitás:
A Nikon P2-CIA Koaxiális Beeső Fény Megvilágítóval való használatra tervezve, és kompatibilis sztereó mikroszkópokkal, mint az SMZ25 és SMZ18, tipikusan 1x objektívek használatakor.

Főbb jellemzők:

• Pontos negyedhullámhosszúságú (λ/4) retardációt biztosít, általában 550 nm-re (zöld fény) optimalizálva

• Fokozza az interferenciaszínek láthatóságát és lehetővé teszi a kettősen törő anyagok optikai útkülönbségeinek elemzését

• Lehetővé teszi az optikai tulajdonságok, mint a retardáció és orientáció kvalitatív és kvantitatív értékelését

• Hasznos az oltási sávok kiküszöbölésére és a kép tisztaságának javítására kristályok, ásványok, polimerek és más anizotróp minták vizsgálatában

• Könnyen behelyezhető 45 fokos szögben a polarizátorhoz és analizátorhoz a helyes működés érdekében

Alkalmazások:
Anyagtudomány szálak, polimerek és kristályos szerkezetek elemzésére
Geológia és ásványtan ásványi azonosításra és kettőstörés mérésére
Elektronika és félvezető vizsgálat részletes felületelemzésre
Minőségellenőrzés és kutatás fejlett polarizációs technikák alkalmazásával

Ez a lemez elengedhetetlen eszköz bárki számára, aki fejlett polarizációs mikroszkópiát végez, pontos irányítást biztosítva a fény polarizációs állapota felett, és támogatva a széles körű kettősen törő és visszaverő minták magas kontrasztú, pontos képalkotását.