Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 Platte (65464)

Die Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4-Platte ist ein Viertelwellenplatten-Zubehör, das speziell für die Verwendung mit Nikons P2-CIA Koaxial-Epi-Beleuchter und kompatiblen Stereomikroskopen wie dem SMZ25 und SMZ18 entwickelt wurde. Diese optische Platte wird in der polarisierten Lichtmikroskopie verwendet, um den Kontrast zu verbessern und detaillierte Merkmale in doppelbrechenden oder reflektierenden Proben sichtbar zu machen. Durch die Einführung einer präzisen Phasenverschiebung zwischen orthogonalen Lichtwellen ermöglicht die Platte fortschrittliche Polarisationstechniken, wie die Beobachtung von Interferenzfarben und die Umwandlung zwischen linear und zirkular polarisiertem Licht. Dies macht sie zu einem wertvollen Werkzeug für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Geologie, Elektronik und Qualitätskontrolle, bei denen eine detaillierte Analyse der Oberflächenstruktur und optischen Eigenschaften erforderlich ist.

Diese Viertelwellenplatte (λ/4) wird verwendet, um eine 90-Grad-Phasenverschiebung zwischen den gewöhnlichen und außergewöhnlichen Komponenten des polarisierten Lichts einzuführen, wodurch linear polarisiertes Licht in zirkular oder elliptisch polarisiertes Licht umgewandelt wird und umgekehrt.

Kompatibilität:
Entwickelt für die Verwendung mit dem Nikon P2-CIA Koaxial-Epi-Beleuchter und geeignet für Stereomikroskope wie das SMZ25 und SMZ18 bei Verwendung von 0,5x oder 1x Objektiven.

Hauptmerkmale:

• Bietet eine präzise Viertelwellenlängenverzögerung (λ/4), typischerweise bei 550 nm (grünes Licht), für optimale Leistung in Anwendungen mit polarisiertem Licht

• Verbessert die Fähigkeit, Interferenzfarben zu beobachten und optische Wegunterschiede in doppelbrechenden Proben zu analysieren

• Ermöglicht die qualitative und quantitative Bewertung optischer Eigenschaften wie Verzögerung und Orientierung in Materialien

• Kann verwendet werden, um Extinktionsbänder zu eliminieren und die Bildklarheit bei der Analyse von Kristallen, Mineralien, Polymeren und anderen anisotropen Materialien zu verbessern

• Einfach in einem 45-Grad-Winkel zum Polarisator und Analysator für den korrekten Betrieb einzusetzen

Anwendungen:
Materialwissenschaft zur Analyse von Polymeren, Fasern und kristallinen Strukturen
Geologie und Mineralogie zur Mineralidentifikation und Doppelbrechungsmessung
Elektronik- und Halbleiterinspektion zur Analyse der Oberflächenstruktur
Qualitätskontrolle und Forschung, die fortschrittliche Polarisationstechniken erfordern

Diese Platte ist ein unverzichtbares Zubehör für alle, die fortschrittliche Polarisationsmikroskopie durchführen, da sie eine präzise Kontrolle über den Polarisationszustand des Lichts bietet und eine genaue, kontrastreiche Bildgebung einer Vielzahl von doppelbrechenden und reflektierenden Proben ermöglicht.