ניקון P2-CIA QL0.5X לוח למבדה/4 (65464)

לוחית Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 היא אביזר לוחית רבע גל שתוכנן במיוחד לשימוש עם מאיר אפי קואקסיאלי P2-CIA של Nikon ומיקרוסקופים סטריאוסקופיים תואמים, כגון SMZ25 ו-SMZ18. לוחית אופטית זו משמשת במיקרוסקופיה באור מקוטב כדי לשפר את הניגודיות ולחשוף תכונות מפורטות בדגימות דו-שבירות או מחזירות אור. על ידי הכנסת שינוי פאזה מדויק בין גלי אור אורתוגונליים, הלוחית מאפשרת טכניקות קיטוב מתקדמות, כגון תצפית על צבעי התאבכות והמרה בין אור מקוטב ליניארי ומעגלי. זה הופך אותה לכלי בעל ערך ליישומים במדעי החומרים, גיאולוגיה, אלקטרוניקה ובקרת איכות, שבהם נדרשת ניתוח מפורט של מבנה פני השטח ותכונות אופטיות.

לוחית רבע גל (λ/4) זו משמשת להחדרת שינוי פאזה של 90 מעלות בין הרכיבים הרגילים והיוצאי דופן של אור מקוטב, המרה של אור מקוטב ליניארי לאור מקוטב מעגלי או אליפטי, ולהפך.

תאימות:
תוכנן לשימוש עם מאיר אפי קואקסיאלי P2-CIA של Nikon, ומתאים למיקרוסקופים סטריאוסקופיים כגון SMZ25 ו-SMZ18 כאשר משתמשים בעדשות 0.5x או 1x.

תכונות עיקריות:

• מספקת עיכוב מדויק של רבע אורך גל (λ/4), בדרך כלל ב-550 ננומטר (אור ירוק), לביצועים אופטימליים ביישומי אור מקוטב

• משפרת את היכולת לצפות בצבעי התאבכות ולנתח הבדלים במסלול האופטי בדגימות דו-שבירות

• מאפשרת הערכה איכותית וכמותית של תכונות אופטיות, כגון עיכוב וכיוון, בחומרים

• ניתן להשתמש בה כדי לבטל רצועות הכחדה ולשפר את בהירות התמונה בעת ניתוח גבישים, מינרלים, פולימרים וחומרים אנאיזוטרופיים אחרים

• מוכנסת בקלות בזווית של 45 מעלות לפולאריזר ולמנתח לפעולה נכונה

יישומים:
מדעי החומרים לניתוח פולימרים, סיבים ומבנים גבישיים
גיאולוגיה ומינרלוגיה לזיהוי מינרלים ומדידת דו-שבירות
בדיקת אלקטרוניקה ומוליכים למחצה לניתוח מבנה פני השטח
בקרת איכות ומחקר הדורשים טכניקות קיטוב מתקדמות

לוחית זו היא אביזר חיוני לכל מי שמבצע מיקרוסקופיה בקיטוב מתקדם, ומציעה שליטה מדויקת על מצב הקיטוב של האור ומאפשרת הדמיה מדויקת ובעלת ניגודיות גבוהה של מגוון רחב של דגימות דו-שבירות ומחזירות אור.