Nikon P2-CIA QL0.5X пластина Лямбда/4 (65464)

Пластина Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 является аксессуаром четвертьволновой пластины, специально разработанным для использования с коаксиальным эпи-осветителем Nikon P2-CIA и совместимыми стереомикроскопами, такими как SMZ25 и SMZ18. Эта оптическая пластина используется в поляризационной микроскопии для улучшения контраста и выявления детальных особенностей в двулучепреломляющих или отражающих образцах. Вводя точный фазовый сдвиг между ортогональными световыми волнами, пластина позволяет использовать передовые поляризационные техники, такие как наблюдение интерференционных цветов и преобразование между линейно и циркулярно поляризованным светом. Это делает её ценным инструментом для применения в материаловедении, геологии, электронике и контроле качества, где требуется детальный анализ структуры поверхности и оптических свойств.

Эта четвертьволновая (λ/4) пластина используется для введения фазового сдвига на 90 градусов между обычными и необычными компонентами поляризованного света, преобразуя линейно поляризованный свет в циркулярно или эллиптически поляризованный свет и наоборот.

Совместимость:
Разработана для использования с коаксиальным эпи-осветителем Nikon P2-CIA и подходит для стереомикроскопов, таких как SMZ25 и SMZ18, при использовании объективов 0.5x или 1x.

Ключевые особенности:

• Обеспечивает точное четвертьволновое (λ/4) запаздывание, обычно на 550 нм (зелёный свет), для оптимальной работы в поляризационных приложениях

• Улучшает возможность наблюдения интерференционных цветов и анализа оптических путевых различий в двулучепреломляющих образцах

• Позволяет проводить качественную и количественную оценку оптических свойств, таких как запаздывание и ориентация, в материалах

• Может использоваться для устранения полос погашения и улучшения чёткости изображения при анализе кристаллов, минералов, полимеров и других анизотропных материалов

• Легко вставляется под углом 45 градусов к поляризатору и анализатору для правильной работы

Применение:
Материаловедение для анализа полимеров, волокон и кристаллических структур
Геология и минералогия для идентификации минералов и измерения двулучепреломления
Электроника и инспекция полупроводников для анализа структуры поверхности
Контроль качества и исследования, требующие передовых поляризационных техник

Эта пластина является необходимым аксессуаром для всех, кто выполняет передовую поляризационную микроскопию, предлагая точный контроль над состоянием поляризации света и обеспечивая точное, высококонтрастное изображение широкого спектра двулучепреломляющих и отражающих образцов.