Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 -levy (65464)

Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 -levy on neljännesaallon levy, joka on erityisesti suunniteltu käytettäväksi Nikonin P2-CIA koaksiaalisen epi-valaistimen ja yhteensopivien stereomikroskooppien, kuten SMZ25 ja SMZ18, kanssa. Tätä optista levyä käytetään polarisoidun valon mikroskopiassa kontrastin parantamiseen ja yksityiskohtaisten piirteiden paljastamiseen kaksitaitteisissa tai heijastavissa näytteissä. Levyn avulla voidaan tuoda tarkka vaihe-ero ortogonaalisten valoaallojen välille, mikä mahdollistaa edistyneet polarisaatiotekniikat, kuten interferenssivärien havainnoinnin ja lineaarisesti ja ympyräpolarisoidun valon muuntamisen. Tämä tekee siitä arvokkaan työkalun materiaalitieteessä, geologiassa, elektroniikassa ja laadunvalvonnassa, joissa tarvitaan yksityiskohtaista analyysiä pintarakenteesta ja optisista ominaisuuksista.

Tätä neljännesaallon (λ/4) levyä käytetään tuomaan 90 asteen vaihe-ero polarisoidun valon tavallisten ja poikkeuksellisten komponenttien välille, muuntaen lineaarisesti polarisoidun valon ympyrä- tai ellipsipolarisoiduksi valoksi ja päinvastoin.

Yhteensopivuus:
Suunniteltu käytettäväksi Nikon P2-CIA koaksiaalisen epi-valaistimen kanssa, ja sopii stereomikroskoopeille, kuten SMZ25 ja SMZ18, kun käytetään 0.5x tai 1x objektiiveja.

Keskeiset ominaisuudet:

• Tarjoaa tarkan neljännesaallon (λ/4) viiveen, tyypillisesti 550 nm (vihreä valo), optimaaliseen suorituskykyyn polarisoidun valon sovelluksissa

• Parantaa kykyä havaita interferenssivärejä ja analysoida optisia polkueroja kaksitaitteisissa näytteissä

• Mahdollistaa optisten ominaisuuksien, kuten viiveen ja orientaation, laadullisen ja määrällisen arvioinnin materiaaleissa

• Voidaan käyttää sammumisvyöhykkeiden poistamiseen ja kuvan selkeyden parantamiseen analysoitaessa kiteitä, mineraaleja, polymeerejä ja muita anisotrooppisia materiaaleja

• Helposti asetettavissa 45 asteen kulmaan polarisaattoriin ja analysaattoriin nähden oikeaa toimintaa varten

Sovellukset:
Materiaalitiede polymeerien, kuitujen ja kiteisten rakenteiden analysointiin
Geologia ja mineralogia mineraalien tunnistamiseen ja kaksitaitteisuuden mittaamiseen
Elektroniikka ja puolijohteiden tarkastus pintarakenteen analysointiin
Laadunvalvonta ja tutkimus, jotka vaativat edistyneitä polarisaatiotekniikoita

Tämä levy on olennainen lisävaruste kaikille, jotka suorittavat edistynyttä polarisaatiomikroskopiaa, tarjoten tarkan hallinnan valon polarisaatiotilasta ja mahdollistaen tarkan, korkean kontrastin kuvantamisen laajasta valikoimasta kaksitaitteisia ja heijastavia näytteitä.