निकॉन P2-CIA QL0.5X लैम्ब्डा/4 प्लेट (65464)

निकॉन P2-CIA QL0.5X Lambda/4 प्लेट एक क्वार्टर-वेव प्लेट सहायक उपकरण है जो विशेष रूप से निकॉन के P2-CIA कोएक्सियल एपि इल्यूमिनेटर और संगत स्टीरियो माइक्रोस्कोप, जैसे SMZ25 और SMZ18 के साथ उपयोग के लिए डिज़ाइन किया गया है। यह ऑप्टिकल प्लेट ध्रुवीकृत प्रकाश माइक्रोस्कोपी में उपयोग की जाती है ताकि द्विघातक या परावर्तक नमूनों में कंट्रास्ट को बढ़ाया जा सके और विस्तृत विशेषताओं को प्रकट किया जा सके। ऑर्थोगोनल प्रकाश तरंगों के बीच एक सटीक चरण शिफ्ट को पेश करके, प्लेट उन्नत ध्रुवीकरण तकनीकों को सक्षम बनाती है, जैसे कि हस्तक्षेप रंगों का अवलोकन और रैखिक और वृत्ताकार ध्रुवीकृत प्रकाश के बीच रूपांतरण। यह इसे सामग्री विज्ञान, भूविज्ञान, इलेक्ट्रॉनिक्स, और गुणवत्ता नियंत्रण में अनुप्रयोगों के लिए एक मूल्यवान उपकरण बनाता है, जहां सतह संरचना और ऑप्टिकल गुणों का विस्तृत विश्लेषण आवश्यक होता है।

यह क्वार्टर-वेव (λ/4) प्लेट ध्रुवीकृत प्रकाश के साधारण और असाधारण घटकों के बीच 90-डिग्री चरण शिफ्ट को पेश करने के लिए उपयोग की जाती है, रैखिक ध्रुवीकृत प्रकाश को वृत्ताकार या दीर्घवृत्ताकार ध्रुवीकृत प्रकाश में परिवर्तित करने के लिए, और इसके विपरीत।

संगतता:
निकॉन P2-CIA कोएक्सियल एपि इल्यूमिनेटर के साथ उपयोग के लिए डिज़ाइन किया गया है, और 0.5x या 1x ऑब्जेक्टिव्स का उपयोग करते समय SMZ25 और SMZ18 जैसे स्टीरियो माइक्रोस्कोप के लिए उपयुक्त है।

मुख्य विशेषताएं:

• ध्रुवीकृत प्रकाश अनुप्रयोगों में इष्टतम प्रदर्शन के लिए आमतौर पर 550 nm (हरा प्रकाश) पर सटीक क्वार्टर-वेवलेंथ (λ/4) रिटार्डेशन प्रदान करता है

• हस्तक्षेप रंगों का अवलोकन करने और द्विघातक नमूनों में ऑप्टिकल पथ अंतर का विश्लेषण करने की क्षमता को बढ़ाता है

• सामग्री में रिटार्डेशन और अभिविन्यास जैसे ऑप्टिकल गुणों का गुणात्मक और मात्रात्मक मूल्यांकन करने की अनुमति देता है

• क्रिस्टल, खनिज, पॉलिमर, और अन्य अनिसोट्रोपिक सामग्रियों का विश्लेषण करते समय विलुप्ति बैंड को समाप्त करने और छवि स्पष्टता में सुधार करने के लिए उपयोग किया जा सकता है

• सही संचालन के लिए पोलराइज़र और एनालाइज़र के लिए 45-डिग्री कोण पर आसानी से डाला जा सकता है

अनुप्रयोग:
पॉलिमर, फाइबर, और क्रिस्टलीय संरचनाओं का विश्लेषण करने के लिए सामग्री विज्ञान
खनिज पहचान और द्विघातक माप के लिए भूविज्ञान और खनिज विज्ञान
सतह संरचना विश्लेषण के लिए इलेक्ट्रॉनिक्स और सेमीकंडक्टर निरीक्षण
उन्नत ध्रुवीकरण तकनीकों की आवश्यकता वाले गुणवत्ता नियंत्रण और अनुसंधान

यह प्लेट किसी भी व्यक्ति के लिए एक आवश्यक सहायक उपकरण है जो उन्नत ध्रुवीकरण माइक्रोस्कोपी कर रहा है, प्रकाश की ध्रुवीकरण स्थिति पर सटीक नियंत्रण प्रदान करता है और द्विघातक और परावर्तक नमूनों की एक विस्तृत श्रृंखला की सटीक, उच्च-कंट्रास्ट इमेजिंग को सक्षम बनाता है।