Nikon P2-CIA QL0.5X Πλάκα Lambda/4 (65464)

Η πλάκα Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 είναι ένα εξάρτημα τετάρτου κύματος που έχει σχεδιαστεί ειδικά για χρήση με τον ομοαξονικό επιφωτιστή P2-CIA της Nikon και συμβατά στερεοσκοπικά μικροσκόπια, όπως τα SMZ25 και SMZ18. Αυτή η οπτική πλάκα χρησιμοποιείται στη μικροσκοπία πολωμένου φωτός για την ενίσχυση της αντίθεσης και την αποκάλυψη λεπτομερών χαρακτηριστικών σε δειγματοληπτικά ή ανακλαστικά δείγματα. Με την εισαγωγή μιας ακριβούς μετατόπισης φάσης μεταξύ ορθογώνιων κυμάτων φωτός, η πλάκα επιτρέπει προηγμένες τεχνικές πόλωσης, όπως η παρατήρηση χρωμάτων παρεμβολής και η μετατροπή μεταξύ γραμμικά και κυκλικά πολωμένου φωτός. Αυτό την καθιστά ένα πολύτιμο εργαλείο για εφαρμογές στις επιστήμες υλικών, τη γεωλογία, τα ηλεκτρονικά και τον ποιοτικό έλεγχο, όπου απαιτείται λεπτομερής ανάλυση της δομής της επιφάνειας και των οπτικών ιδιοτήτων.

Αυτή η πλάκα τετάρτου κύματος (λ/4) χρησιμοποιείται για την εισαγωγή μιας μετατόπισης φάσης 90 μοιρών μεταξύ των κανονικών και εξαιρετικών συνιστωσών του πολωμένου φωτός, μετατρέποντας το γραμμικά πολωμένο φως σε κυκλικά ή ελλειπτικά πολωμένο φως, και αντίστροφα.

Συμβατότητα:
Σχεδιασμένη για χρήση με τον ομοαξονικό επιφωτιστή P2-CIA της Nikon, και κατάλληλη για στερεοσκοπικά μικροσκόπια όπως τα SMZ25 και SMZ18 όταν χρησιμοποιούνται αντικειμενικοί φακοί 0.5x ή 1x.

Κύρια Χαρακτηριστικά:

• Παρέχει ακριβή καθυστέρηση τετάρτου μήκους κύματος (λ/4), συνήθως στα 550 nm (πράσινο φως), για βέλτιστη απόδοση σε εφαρμογές πολωμένου φωτός

• Ενισχύει την ικανότητα παρατήρησης χρωμάτων παρεμβολής και ανάλυσης διαφορών οπτικής διαδρομής σε δειγματοληπτικά δείγματα

• Επιτρέπει ποιοτική και ποσοτική αξιολόγηση των οπτικών ιδιοτήτων, όπως η καθυστέρηση και ο προσανατολισμός, σε υλικά

• Μπορεί να χρησιμοποιηθεί για την εξάλειψη ζωνών εξαφάνισης και τη βελτίωση της καθαρότητας της εικόνας κατά την ανάλυση κρυστάλλων, ορυκτών, πολυμερών και άλλων ανισοτροπικών υλικών

• Εισάγεται εύκολα σε γωνία 45 μοιρών προς τον πολωτή και τον αναλυτή για σωστή λειτουργία

Εφαρμογές:
Επιστήμη υλικών για ανάλυση πολυμερών, ινών και κρυσταλλικών δομών
Γεωλογία και ορυκτολογία για αναγνώριση ορυκτών και μέτρηση διπλοθλαστικότητας
Επιθεώρηση ηλεκτρονικών και ημιαγωγών για ανάλυση δομής επιφάνειας
Ποιοτικός έλεγχος και έρευνα που απαιτούν προηγμένες τεχνικές πόλωσης

Αυτή η πλάκα είναι ένα απαραίτητο εξάρτημα για οποιονδήποτε εκτελεί προηγμένη μικροσκοπία πόλωσης, προσφέροντας ακριβή έλεγχο της κατάστασης πόλωσης του φωτός και επιτρέποντας ακριβή, υψηλής αντίθεσης απεικόνιση μιας ευρείας γκάμας δειγματοληπτικών και ανακλαστικών δειγμάτων.