Nikon Software NIS PLUG-IN (tabla cruzada XY) (65559)

El complemento de software Nikon NIS (tabla cruzada XY) es una extensión para la plataforma de imágenes NIS-Elements que permite un control preciso y la automatización de los movimientos de la etapa XY durante los experimentos de imagen. Este complemento es especialmente útil en entornos de laboratorio, investigación e industria donde se requiere la adquisición de datos en múltiples puntos, como el escaneo de placas de pocillos o la creación de imágenes grandes cosidas. Al integrarse con etapas XY motorizadas, el complemento permite a los usuarios automatizar la selección y navegación de múltiples posiciones de muestra, optimizando los flujos de trabajo para imágenes de alto contenido, estudios de lapso de tiempo y experimentos multidimensionales.

Facilita el control automatizado y la programación de etapas XY motorizadas dentro del entorno de software NIS-Elements, permitiendo un posicionamiento preciso y repetible durante las tareas de imagen.

Funciones Clave:

• Permite a los usuarios definir y gestionar múltiples puntos de adquisición a través de una muestra, como filas y columnas en una placa de pocillos o coordenadas específicas en un portaobjetos

• Se integra con el diálogo de Adquisición ND (N-dimensional) en NIS-Elements para apoyar experimentos complejos, incluyendo lapso de tiempo, Z-stack e imágenes multicanal

• Soporta la creación, edición y guardado de mapas de posición de placas de pocillos o personalizados, incluyendo la alineación y etiquetado de cada posición

• Permite la transferencia de puntos seleccionados al flujo de trabajo de adquisición para imágenes automatizadas

• Proporciona herramientas para el post-procesamiento, como coser imágenes de múltiples posiciones XY en una sola imagen grande o exportar conjuntos de datos en varios formatos

Compatibilidad:
Requiere una etapa XY motorizada compatible y es compatible con paquetes NIS-Elements como Advanced Research (AR), Basic Research (BR) y Documentation (D), con los módulos apropiados instalados.

Aplicaciones:
Cribado de alto contenido con placas de pocillos
Imágenes automatizadas de múltiples puntos
Escaneo de áreas grandes y cosido de imágenes
Experimentos de microscopía de lapso de tiempo y multidimensionales

Características Principales:

• Optimiza la configuración y ejecución de experimentos que involucran múltiples posiciones de muestra

• Ofrece plantillas para placas de pocillos estándar y soporta configuraciones personalizadas

• Proporciona fácil alineación y guardado de posiciones de etapa para uso futuro

• Mejora la eficiencia y reproducibilidad en flujos de trabajo de microscopía automatizada

Este complemento es esencial para los usuarios que necesitan automatizar y gestionar experimentos de imagen complejos que involucran múltiples posiciones de etapa XY, asegurando una adquisición de datos precisa y eficiente en una amplia gama de aplicaciones de microscopía.