شرکت ما درگیر تهیه مجوزهای رسمی از وزارت توسعه و فناوری لهستان است که به ما امکان می‌دهد همه پهپادهای دو منظوره، اپتیک و رادیوفون‌های قابل حمل را بدون مالیات بر ارزش افزوده در طرف لهستان / و بدون مالیات بر ارزش افزوده از طرف اوکراینی صادر کنیم.
نیکون P2-CIA QL0.5X صفحه لمبدا/4 (65464)
صفحه نیکون P2-CIA QL0.5X Lambda/4 یک لوازم جانبی صفحه ربع موج است که به‌طور خاص برای استفاده با نورپرداز اپی‌کواکسیال P2-CIA نیکون و میکروسکوپ‌های استریو سازگار مانند SMZ25 و SMZ18 طراحی شده است. این صفحه نوری در میکروسکوپی نور قطبی‌شده برای افزایش کنتراست و آشکارسازی ویژگی‌های دقیق در نمونه‌های دوشکستی یا بازتابی استفاده می‌شود.
1398.02 BGN Netto (non-EU countries)
آناتولی لیواشفسکی
مدیر تولید
/ 
+48721808900
+48721808900
+48721808900
[email protected]
توضیحات
پلیت نیکون P2-CIA QL0.5X Lambda/4 یک لوازم جانبی موج‌بر ربعی است که به‌طور خاص برای استفاده با نورپرداز اپی‌کواکسیال نیکون P2-CIA و میکروسکوپ‌های استریو سازگار، مانند SMZ25 و SMZ18 طراحی شده است. این پلیت نوری در میکروسکوپی نور قطبی‌شده برای افزایش کنتراست و آشکارسازی ویژگی‌های دقیق در نمونه‌های دوشکستی یا بازتابی استفاده می‌شود. با معرفی یک تغییر فاز دقیق بین امواج نوری متعامد، این پلیت تکنیک‌های پیشرفته قطبی‌سازی را ممکن می‌سازد، مانند مشاهده رنگ‌های تداخلی و تبدیل بین نور قطبی‌شده خطی و دایره‌ای. این ویژگی آن را به ابزاری ارزشمند برای کاربردهای علوم مواد، زمین‌شناسی، الکترونیک و کنترل کیفیت تبدیل می‌کند، جایی که تحلیل دقیق ساختار سطح و خواص نوری مورد نیاز است.
این پلیت موج‌بر ربعی (λ/4) برای معرفی یک تغییر فاز ۹۰ درجه بین اجزای معمولی و غیرمعمولی نور قطبی‌شده استفاده می‌شود، که نور قطبی‌شده خطی را به نور قطبی‌شده دایره‌ای یا بیضوی تبدیل می‌کند و بالعکس.
سازگاری:
طراحی شده برای استفاده با نورپرداز اپی‌کواکسیال نیکون P2-CIA و مناسب برای میکروسکوپ‌های استریو مانند SMZ25 و SMZ18 هنگام استفاده از اهداف 0.5x یا 1x.
ویژگی‌های کلیدی:
-
ارائه تأخیر دقیق ربع طول موج (λ/4)، معمولاً در ۵۵۰ نانومتر (نور سبز)، برای عملکرد بهینه در کاربردهای نور قطبی‌شده
-
افزایش توانایی مشاهده رنگ‌های تداخلی و تحلیل تفاوت‌های مسیر نوری در نمونه‌های دوشکستی
-
امکان ارزیابی کیفی و کمی خواص نوری، مانند تأخیر و جهت‌گیری، در مواد
-
می‌تواند برای حذف باندهای انقراض و بهبود وضوح تصویر هنگام تحلیل کریستال‌ها، مواد معدنی، پلیمرها و سایر مواد ناهمسانگرد استفاده شود
-
به‌راحتی در زاویه ۴۵ درجه به قطبنده و تحلیل‌گر برای عملکرد صحیح وارد می‌شود
کاربردها:
علوم مواد برای تحلیل پلیمرها، الیاف و ساختارهای کریستالی
زمین‌شناسی و کانی‌شناسی برای شناسایی مواد معدنی و اندازه‌گیری دوشکستی
بازرسی الکترونیک و نیمه‌هادی برای تحلیل ساختار سطح
کنترل کیفیت و تحقیقاتی که نیاز به تکنیک‌های پیشرفته قطبی‌سازی دارند
این پلیت یک لوازم جانبی ضروری برای هر کسی است که میکروسکوپی قطبی‌سازی پیشرفته انجام می‌دهد، ارائه کنترل دقیق بر حالت قطبی‌سازی نور و امکان تصویربرداری دقیق و با کنتراست بالا از طیف گسترده‌ای از نمونه‌های دوشکستی و بازتابی.
مشخصات
مجوزهای رسمی وزارت توسعه و فناوری
شرکت ما درگیر تهیه مجوزهای رسمی از وزارت توسعه و فناوری لهستان است که به ما امکان می‌دهد همه پهپادهای دو منظوره، اپتیک و رادیوفون‌های قابل حمل را بدون مالیات بر ارزش افزوده در طرف لهستان / و بدون مالیات بر ارزش افزوده از طرف اوکراینی صادر کنیم.