Nikon P2-CIA QL0.5X placa Lambda/4 (65464)

A placa Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 é um acessório de placa de onda-quarto especificamente projetado para uso com o Iluminador Epi Coaxial P2-CIA da Nikon e microscópios estereoscópicos compatíveis, como o SMZ25 e o SMZ18. Esta placa óptica é usada em microscopia de luz polarizada para melhorar o contraste e revelar características detalhadas em amostras birrefringentes ou reflexivas. Ao introduzir um deslocamento de fase preciso entre ondas de luz ortogonais, a placa permite técnicas avançadas de polarização, como a observação de cores de interferência e a conversão entre luz polarizada linearmente e circularmente. Isso a torna uma ferramenta valiosa para aplicações em ciência dos materiais, geologia, eletrônica e controle de qualidade, onde é necessária uma análise detalhada da estrutura de superfície e propriedades ópticas.

Esta placa de onda-quarto (λ/4) é usada para introduzir um deslocamento de fase de 90 graus entre os componentes ordinário e extraordinário da luz polarizada, convertendo luz polarizada linearmente em luz polarizada circularmente ou elipticamente, e vice-versa.

Compatibilidade:
Projetada para uso com o Iluminador Epi Coaxial P2-CIA da Nikon, e adequada para microscópios estereoscópicos como o SMZ25 e o SMZ18 ao usar objetivas de 0,5x ou 1x.

Características Principais:

• Fornece uma retardação precisa de um quarto de comprimento de onda (λ/4), tipicamente a 550 nm (luz verde), para desempenho ideal em aplicações de luz polarizada

• Melhora a capacidade de observar cores de interferência e analisar diferenças de caminho óptico em espécimes birrefringentes

• Permite avaliação qualitativa e quantitativa de propriedades ópticas, como retardação e orientação, em materiais

• Pode ser usada para eliminar bandas de extinção e melhorar a clareza da imagem ao analisar cristais, minerais, polímeros e outros materiais anisotrópicos

• Facilmente inserida em um ângulo de 45 graus em relação ao polarizador e analisador para operação correta

Aplicações:
Ciência dos materiais para análise de polímeros, fibras e estruturas cristalinas
Geologia e mineralogia para identificação de minerais e medição de birrefringência
Inspeção de eletrônicos e semicondutores para análise de estrutura de superfície
Controle de qualidade e pesquisa que requerem técnicas avançadas de polarização

Esta placa é um acessório essencial para qualquer pessoa que realize microscopia de polarização avançada, oferecendo controle preciso sobre o estado de polarização da luz e permitindo imagens precisas e de alto contraste de uma ampla gama de amostras birrefringentes e reflexivas.