Nikon programska oprema NIS PLUG-IN (križna tabela XY) (65559)

Nikon Software NIS vtičnik (križna tabela XY) je razširitev za platformo za slikanje NIS-Elements, ki omogoča natančen nadzor in avtomatizacijo premikov XY stopnje med slikovnimi eksperimenti. Ta vtičnik je še posebej uporaben v laboratorijskih, raziskovalnih in industrijskih okoljih, kjer je potrebna večtočkovna pridobitev podatkov, kot je skeniranje plošč z vdolbinicami ali ustvarjanje velikih sestavljenih slik. Z integracijo z motoriziranimi XY stopnjami vtičnik omogoča uporabnikom avtomatizacijo izbire in navigacije več vzorčnih položajev, kar poenostavi delovne tokove za slikanje z visoko vsebnostjo, časovno zamikane študije in večdimenzionalne eksperimente.

Omogoča avtomatiziran nadzor in programiranje motoriziranih XY stopenj znotraj programske opreme NIS-Elements, kar omogoča natančno in ponovljivo pozicioniranje med slikovnimi nalogami.

Ključne funkcije:

• Omogoča uporabnikom definiranje in upravljanje več točk pridobivanja po vzorcu, kot so vrstice in stolpci v plošči z vdolbinicami ali specifične koordinate na stekelcu

• Integrira se z ND (N-dimenzionalnim) dialogom za pridobivanje v NIS-Elements za podporo kompleksnim eksperimentom, vključno s časovnim zamikom, Z-sklopom in večkanalnim slikanjem

• Podpira ustvarjanje, urejanje in shranjevanje zemljevidov plošč z vdolbinicami ali prilagojenih položajev, vključno s poravnavo in označevanjem vsakega položaja

• Omogoča prenos izbranih točk v delovni tok pridobivanja za avtomatizirano slikanje

• Nudi orodja za naknadno obdelavo, kot je sestavljanje slik iz več XY položajev v eno veliko sliko ali izvoz podatkovnih nizov v različnih formatih

Združljivost:
Zahteva združljivo motorizirano XY stopnjo in je podprt v paketih NIS-Elements, kot so Advanced Research (AR), Basic Research (BR) in Documentation (D), z ustreznimi nameščenimi moduli.

Uporabe:
Skeniranje z visoko vsebnostjo s ploščami z vdolbinicami
Avtomatizirano večtočkovno slikanje
Skeniranje velikih površin in sestavljanje slik
Časovno zamikani in večdimenzionalni mikroskopski eksperimenti

Glavne značilnosti:

• Poenostavi nastavitev in izvedbo eksperimentov, ki vključujejo več vzorčnih položajev

• Ponuja predloge za standardne plošče z vdolbinicami in podpira prilagojene konfiguracije

• Omogoča enostavno poravnavo in shranjevanje položajev stopnje za prihodnjo uporabo

• Izboljša učinkovitost in ponovljivost v avtomatiziranih mikroskopskih delovnih tokovih

Ta vtičnik je bistven za uporabnike, ki morajo avtomatizirati in upravljati kompleksne slikovne eksperimente, ki vključujejo več XY stopenjskih položajev, kar zagotavlja natančno in učinkovito pridobivanje podatkov v širokem spektru mikroskopskih aplikacij.