Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 пластина (65464)

Пластина Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 є аксесуаром чвертьхвильової пластини, спеціально розробленим для використання з коаксіальним епі-освітлювачем Nikon P2-CIA та сумісними стереомікроскопами, такими як SMZ25 і SMZ18. Ця оптична пластина використовується в поляризаційній мікроскопії для підвищення контрасту та виявлення детальних особливостей у двопроменезаломлюючих або відбивних зразках. Вводячи точний фазовий зсув між ортогональними світловими хвилями, пластина дозволяє використовувати передові поляризаційні техніки, такі як спостереження інтерференційних кольорів та перетворення між лінійно та циркулярно поляризованим світлом. Це робить її цінним інструментом для застосувань у матеріалознавстві, геології, електроніці та контролі якості, де потрібен детальний аналіз поверхневої структури та оптичних властивостей.

Ця чвертьхвильова (λ/4) пластина використовується для введення фазового зсуву на 90 градусів між звичайними та незвичайними компонентами поляризованого світла, перетворюючи лінійно поляризоване світло в циркулярно або еліптично поляризоване світло, і навпаки.

Сумісність:
Розроблена для використання з коаксіальним епі-освітлювачем Nikon P2-CIA, і підходить для стереомікроскопів, таких як SMZ25 і SMZ18, при використанні об'єктивів 0.5x або 1x.

Ключові особливості:

• Забезпечує точну чвертьхвильову (λ/4) ретардацію, зазвичай на 550 нм (зелений світло), для оптимальної роботи в поляризаційних застосуваннях

• Покращує можливість спостереження інтерференційних кольорів та аналізу оптичних шляхів у двопроменезаломлюючих зразках

• Дозволяє якісну та кількісну оцінку оптичних властивостей, таких як ретардація та орієнтація, у матеріалах

• Може використовуватися для усунення смуг згасання та покращення чіткості зображення при аналізі кристалів, мінералів, полімерів та інших анізотропних матеріалів

• Легко вставляється під кутом 45 градусів до поляризатора та аналізатора для правильної роботи

Застосування:
Матеріалознавство для аналізу полімерів, волокон та кристалічних структур
Геологія та мінералогія для ідентифікації мінералів та вимірювання двопроменезаломлення
Електроніка та інспекція напівпровідників для аналізу поверхневої структури
Контроль якості та дослідження, що вимагають передових поляризаційних технік

Ця пластина є необхідним аксесуаром для всіх, хто виконує передову поляризаційну мікроскопію, пропонуючи точний контроль над станом поляризації світла та забезпечуючи точне, висококонтрастне зображення широкого спектру двопроменезаломлюючих та відбивних зразків.